Маликов Владимир НиколаевичКонтроль неоднородностей, примесей и дефектов проводящих сплавов и композиционных материалов с помощью сверхминиатюрных вихретоковых преобразователей

Краткое описание

Маликов Владимир НиколаевичКонтроль неоднородностей, примесей и дефектов проводящих сплавов и композиционных материалов с помощью сверхминиатюрных вихретоковых преобразователей

ОГЛАВЛЕНИЕ ДИССЕРТАЦИИ
кандидат наук Маликов Владимир Николаевич
ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. Современное состояние и практическое значение методов и средств дефектоскопии электропроводящих материалов, сплавов и покрытий

1.1. История исследований в области вихретокового контроля

1.2. Сканирование дефектов в глубине исследуемых материалов

1.3. Некоторые области применения метода вихревых токов в промышленности

ГЛАВА 2. Разработка и оптимизация миниатюрного вихретокового преобразователя

2.1. Общие сведения о методе вихретокового контроля

2.2. Расчёт напряжения возбуждающей и измерительной обмоток для миниатюрного и сверхминиатюрного преобразователей

2.3. Выбор материалов и формы сердечника для увеличения локализации магнитного поля

2.4. Влияние размеров и кривизны объекта контроля на напряжение в измерительной обмотке

2.5. Принципиальная схема сверхминиатюрного вихретокового преобразователя и дифференциального сверхминиатюрного вихретокового преобразователя

2.6. Концепция виртуализированных измерительных приборов

2.7. Разработка системы генерации и обработки сигнала

ГЛАВА 3. Исследование измерительной системы на алюминиевых и титановых сплавах

3.1. Экспериментальные исследования алюминиевых сплавов с модельными дефектами

3.2. Исследование влияния формы сердечника на сигнал вихретокового преобразователя от различных модельных дефектов

3.3. Сканирование сварных швов алюминиевых сплавов

3.4. Анализ сварных швов титановых сплавов

ГЛАВА 4. Исследование композитных материалов металл-диэлектрик-металл и измерение толщины проводящего и непроводящего слоя

4.1. Исследование композитных материалов А1-ПЭНД-А1

4.2. Анализ переходов сталь-диэлектрик-сталь

4.3. Измерение толщины проводящих материалов и диэлектрических материалов, размещенных на металлической подложке

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

Приложение А. Справка о внедрении результатов диссертационной работы

Приложение Б. Патент на изобретение «Устройство для обнаружения дефектов малых линейных размеров»

Приложение В. Патент на изобретение «Дефектоскоп для сварных швов»

ВВЕДЕНИЕ