catalog / TECHNICAL SCIENCES / Solid-state electronics, radio electronic components, micro- and nanoelectronics, devices based on q
скачать файл:
- title:
- Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- university:
- Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный универ
- The year of defence:
- 2014
- brief description:
- Чжо Ко Вин . Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем: диссертация ... кандидата технических наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин ;[Место защиты: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"].- Москва, 2014.- 99 с.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб