catalog / TECHNICAL SCIENCES / Information, measuring and control systems
скачать файл: 
- title:
- Горбатков Михаил Викторович Информационно-измерительная система контроля толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
- Альтернативное название:
- Горбатков Михайло Вікторович Інформаційно-вимірювальна система контролю товщини покриття під час процесу плазмово-електролітичного оксидування
- The year of defence:
- 2019
- brief description:
- Горбатков Михаил Викторович Информационно-измерительная система контроля толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
ОГЛАВЛЕНИЕ ДИССЕРТАЦИИ
кандидат наук Горбатков Михаил Викторович
ВВЕДЕНИЕ
1. АНАЛИЗ СОВРЕМЕННОГО СОСТОЯНИЯ ПЛАЗМЕННО-ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ КАК ОБЪЕКТОВ ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЯ
1.1. Анализ и классификация физико-химических особенностей электролитно-плазменных процессов
1.2. Анализ моделей процесса ПЭО
1.3. Анализ методов измерения и контроля параметров процесса
ПЭО
1.4. Выводы по главе. Формулирование цели и задач исследования
34
2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССА ПЛАЗМЕННО-ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ОКСИДИРОВАНИЯ КАК ОБЪЕКТА ИЗМЕРЕНИЯ И КОНТРОЛЯ
2.1. Методика исследования процесса ПЭО
2.2. Экспериментальная установка для исследования процесса ПЭО
35
2.3. Методика анализа свойств покрытий, формируемых в результате процесса ПЭО
2.4. Результаты экспериментальных исследований характеристик процесса ПЭО как объекта измерения и контроля
2.5. Выводы по главе
3. МОДЕЛИРОВАНИЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ТОКА В ЭЛЕКТРОЛИЗЕРЕ ПЭО И ПОКРЫТИИ
3.1. Постановка задачи
3.2. Методика решения задачи
3.3. Апробирование предложенной методики
3.4. Выводы по главе
4. РАЗРАБОТКА СПОСОБОВ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ В ХОДЕ ПРОЦЕССА ПЭО
4.1. Феноменологическая модель процесса ПЭО
4.2. Способы контроля толщины покрытия в ходе процесса ПЭО
4.3. Оценка погрешностей способов контроля толщины покрытия
85
4.4. Выводы по главе
5. ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ В ХОДЕ ПРОЦЕССА ПЭО
5.1. Структурная схема ИИС
5.2. Аппаратное обеспечение ИИС
5.3. Программное обеспечение ИИС
5.4. Выводы по главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
Приложение А Результаты измерений электрических характеристик и толщины покрытия
Приложение Б. Результаты измерений оптических характеристик и толщины покрытия
Приложение В. Акт использования результатов работы
Приложение Г. Акт оценки эффективности
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб