Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии Панчук, Виталий Владимирович

brief description

Панчук, Виталий Владимирович.
Комбинированный метод анализа поверхности на принципах малоугловой мессбауэровской и рентгеновской спектроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 02.00.02. - Санкт-Петербург, 2005. - 144 с. : ил
Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Панчук, Виталий Владимирович
ВВЕДЕНИЕ.
ГЛАВА 1. СОВРЕМЕННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
1.1. Методы анализа физико-химического состояния поверхности.
1.2. Применение геометрии полного внешнего отражения в аналитических целях.
1.3. Мессбауэровская спектроскопия как метод анализа поверхности.
1.4. Рентгенфлуоресцентная спектроскопия в условиях полного внешнего отражения.
ГЛАВА 2. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЖЕСТКОГО ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С УЛЬТРАТОНКИМИ СЛОЯМИ ПОВЕРХНОСТИ
2.1. Модель взаимодействия излучения с однородной средой.
2.2. Дискретная модель взаимодействие излучения со слоисто-неоднородной средой в геометрии ПВО.
2.3. Формирование аналитических сигналов в условиях ПВО.
2.3.1. Флуоресцентное излучение.
2.3.2. Мессбауэровское излучение. ^
ГЛАВА 3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ КОМПЛЕКСНОГО АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
3.1. Рентгено- и гамма-оптическая схема экспериментальной установки.
3.2.Детектирование различных типов излучения. 6у
3.3.Оптимизация рентгено- и гамма оптической схемы установки. j^
3.4.Электронная система управления и накопления спектрометрической информации.
ГЛАВА 4. МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ
4.1. Юстировка оптической схемы экспериментальной установки. jq
4.2.Методика проведения исследований. уд
4.3.Методика обработки экспериментальных данных. gу
4.4. Пакет программ математической обработки экспериментальных результатов.
ГЛАВА 5. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК И МНОГОСЛОЙНЫХ СИНТЕТИЧЕСКИХ СТРУКТУР
5.1. Анализ многослойных синтетических структур. gg
5.1.1. Мессбауэровская спектроскопия. ду
5.1.2. Результаты рефлектометрических измерений.
5.1.3. Элементный анализ многослойной структуры.
5.2. Селективный по глубине анализ продуктов коррозии в ультратонких пленках железа. Ю
5.2.1 .Результаты рефлектометрических измерений.^ ^
5.2.2.Мессбауэровская спектроскопия продуктов коррозии.^^
5.3.0пределение спиновой текстуры в Fe/V сверхрешеток.