catalog / Physics and mathematics / Condensed Matter Physics
скачать файл:
- title:
- Кютт, Регинальд Николаевич. Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности
- The year of defence:
- 1995
- brief description:
- Кютт, Регинальд Николаевич. Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.07 / Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе.- , 1995.- 39 с.: ил. РГБ ОД, 9 95-3/3646-5
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб