catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл:
- title:
- Ломов Андрей Александрович. Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур
- The year of defence:
- 2006
- brief description:
- Ломов Андрей Александрович. Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.10 Москва, 2006 369 с. РГБ ОД, 71:07-1/51
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб