Масс-спектрометр высокого разрешения с лазерно-плазменным источником ионов Борискин, Александр Иванович

brief description

Борискин, Александр Иванович.
Масс-спектрометр высокого разрешения с лазерно-плазменным источником ионов : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.01. - Сумы, 1983. - 191 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Борискин, Александр Иванович
Введение.
Глава I. Опыт создания и применения масс-спектрометров с лазерно-плазменным источником ионов
§ -I.I. Аналитические возможности применения лазерных источников ионов в масс-спектрометрии
§ 1.2. Параметры плазмы, определяющие характеристики масс-спектрометра с лазерно-плазменным источником ионов.
§ 1.3. Выбор ионно-оптической схемы масс-спектрометра с лазерно-плазменным источником ионов
§ 1.4. Выводы
Глава П. Расчет и выбор параметров элементов ионно-оптической схемы масс-спектрографа с лазерно-плазменным источником ионов
§ 2.1. Параметры ионно-оптической схемы масс-спектрографа с двойной фокусировкой
§ 2.2. Выбор параметров электростатического анализатора
§ 2.4, Расчет формирующей системы источника ионов
§ 2.5. Аналитическая система масс-спектрографа.
§2.6. Выводы
Глава Ш Исследование процессов,влияющих на аналитические характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов.,
§3,1. Влияние преломления ионного пучка на границе электрического поля электростатического анализатора.
§ 3.2. Особенности юстировки масс-спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов
§ 3.3. Оценка влияния объемного заряда ионного пучка в аналитической части масс-спектрографа.
§ 3.4. Влияние остаточного давления газа на аналитические характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой
§ 3.5. Экранирующее действие кратера цри локальном и послойном анализе. цз
§ З.б. Выводы.
Глава 1У. Аналитические возможности лазерного энергомасс-анализатора ЭМАЛ-2 цри исследовании твердых веществ.
§4.1. Аппаратурные возможности прибора
§ 4.2. Аналитические характеристики энергомасс-анализатора
§ 4.3. Исследование сегрегации примесей в сварных швах '
§4.4. О возможности безэталонного количественного анализа многокомпонентной пробы
§ 4.5. Пути улучшения аналитических возможностей массспектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов