ENTRANCE FOR PARTNERS
LATEST NEWS
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Увеличение числа диссертаций в базе |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Доставка любых диссертаций из России и Украины |
THE LAST FEEDBACK
catalog / TECHNICAL SCIENCES / Solid-state electronics, radio electronic components, micro- and nanoelectronics, devices based on q
скачать файл:
- title:
- Овчаренко, Евгений Николаевич. Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур
- The number of pages:
- 200
- university:
- НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина
- The year of defence:
- 1993
- brief description:
- Овчаренко, Евгений Николаевич. Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина.- Москва, 1993.- 24 с.: ил. РГБ ОД, 9 94-1/575-4
- bibliography:
- -
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб
