catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Шретер, Юрий Георгиевич. Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен
- university:
- Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе.- Санкт-Петербург
- The year of defence:
- 1993
- brief description:
- Шретер, Юрий Георгиевич. Исследование оптических и электрических свойств кристаллов Si и Ge, содержащих дислокации и границы зерен : автореферат дис. ... доктора физико-математических наук : 01.04.10 / Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе.- Санкт-Петербург, 1993.- 54 с.: ил. РГБ ОД, 9 93-2/213-7
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб