catalog / TECHNICAL SCIENCES / Solid-state electronics, radio electronic components, micro- and nanoelectronics, devices based on q
скачать файл: 
- title:
- Сивченко Александр Сергеевич. Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине
- university:
- ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
- The year of defence:
- 2021
- brief description:
- Сивченко Александр Сергеевич. Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине;[Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»], 2021
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб