catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Сошников, Александр Игоревич. Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
- university:
- Моск. ин-т стали и сплавов
- The year of defence:
- 2011
- brief description:
- Сошников, Александр Игоревич. Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Сошников Александр Игоревич; [Место защиты: Моск. ин-т стали и сплавов].- Москва, 2011.- 115 с.: ил. РГБ ОД, 61 11-1/917
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб