Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения Чернышов Дмитрий Юрьевич

brief description

Чернышов, Дмитрий Юрьевич.
Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.04; 01.04.07 / Чернышов Дмитрий Юрьевич; [Место защиты: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого]. - Санкт-Петербург, 2019. - 154 с. : ил.
Оглавление диссертациидоктор наук Чернышов Дмитрий Юрьевич
Содержание
ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. Исследование кристаллических структур на источнике СИ
1.1 Основы структурного анализа и особые возможности синхротронного излучения
1.2 Особенности структурных экспериментов, обусловленные использованием
синхротронного излучения
1.3 Практика дифракционного эксперимента
1.4 Выводы к Главе
Глава 2. Новые возможности современного дифракционного эксперимента
2.1 Картографирование обратного пространства
2.2 Дифракционные эксперименты с кристаллами в электрическом поле
2.3 Электрохимические эксперименты с использованием синхротронного излучения
2.4 Комбинация нескольких экспериментальных методов
2.5 Выводы к главе
Глава 3. Спиновая нестабильность в молекулярных кристаллах и аналогах берлинской лазури
3.1 Спиновая нестабильность в молекулярных кристаллах - обзор современного
состояния и открытые вопросы
3.2 Структура комплекса со ступенчатым переходом
3.3 Структура комплексов с инкорпорированными молекулами спиртов - роль спин-пассивных структурных компонент
3.4 Решеточные модели для процессов упорядочения и спиновых переходов
3.5 Спиновый переход в рамках феноменологической теории фазовых переходов
3.6 Новый сценарий спинового перехода
3.7 Структура фотовозбужденного состояния в молекулярных комплексах и аналогах берлинской лазури
3.8 Выводы к Главе
Глава 4. Новые методы анализа дифракционных данных
4.1 Введение в модуляционный метод
4.2 Периодическое внешнее воздействие и дифракционный сигнал- частотный анализ
4.3 Периодическое внешнее воздействие и дифракционный сигнал- корреляционный анализ
4.4 Модуляция структурных параметров и дифракционная интенсивность
4.4 Применение модуляционной дифракции в структурном анализе
4.5 Модуляция постоянных решетки и порошковая дифракция
4.6 Метод главных компонент
Выводы к Главе
Выводы и основные результаты
Заключение