catalog / Physics and mathematics / Physics of devices, components and systems
скачать файл:
- title:
- Свиташева Светлана Николаевна. Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- university:
- Институт ядерной физики им.Г.И.Будкера СО РАН
- The year of defence:
- 2014
- brief description:
- Свиташева Светлана Николаевна. Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов: диссертация ... доктора физико-математических наук: 01.04.01 / Свиташева Светлана Николаевна;[Место защиты: Институт ядерной физики им.Г.И.Будкера СО РАН].- Новосибирск, 2014.- 354 с.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб