catalog / TECHNICAL SCIENCES / Metrology and metrological support
скачать файл: 
- title:
- Васильев Александр Сергеевич. Метрологическое обеспечение измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в многослойных и многокомпонентных металлических покрытиях с применением метода рентгенофлуоресцентного анализа
- university:
- «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева»
- The year of defence:
- 2025
- brief description:
- Метрологическое обеспечение измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в многослойных и многокомпонентных металлических покрытиях с применением метода рентгенофлуоресцентного анализа Васильев Александр Сергеевич. [Место защиты: «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева»], 2025
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб