catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Влияние условий формирования на особенности атомного строения и оптических свойств широкозонных полупроводниковых микро- и наноструктур МоО3 и MoS2 Аль Хайлани Хассан Исмаил Дамбос
- Альтернативное название:
- The Influence of Formation Conditions on the Peculiarities of Atomic Structure and Optical Properties of Wide-Gap Semiconductor Micro- and Nanostructures MoO3 and MoS2 Al Khaylani Hassan Ismail Dambos
- university:
- Воронежский государственный университет
- The year of defence:
- 2019
- brief description:
- Аль, Хайлани Хассан Исмаил Дамбос.
Влияние условий формирования на особенности атомного строения и оптических свойств широкозонных полупроводниковых микро- и наноструктур МоО3 и MoS2 : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Аль Хайлани Хассан Исмаил Дамбос; [Место защиты: Воронежский государственный университет]. - Воронеж, 2019. - 111 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат наук Аль Хайлани Хассан Исмаил Дамбос
ВВЕДЕНИЕ
1. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР. ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА ТРИОКСИДА МОЛИБДЕНА МоОзИДИСУЛЬФИДАМОЛИБДЕНА МоБ2
1.1 Основные свойства триоксида молибдена МоО3
1.1.1 МоО3 на диаграмме состояния молибден-кислород Мо-0
1.1.2 Кристаллическая структура, модификации, параметры решетки МоО3
1.1.3 Методики получения, морфологические особенности различных наноструктур, влияние примесей и применение МоО3
1.1.4 Оптические свойства и ширина запрещенной зоны МоО3
1.2 Основные свойства МоБ2
1.2.1 Диаграмма состояния Мо-Б
1.2.2 Кристаллическая структура и полиморфизм МоБ2
1.2.3 Электронная структура и оптические свойства MоS2
1.2.4 Динамика решетки, комбинационное рассеяние и ИК поглощение
1.3 Выводы по 1 главе. Цели и задачи исследования
2. МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ МИКРО- И НАНОСТРУКТУР МоО3 И МоБ2
2.1.1 Получение микрокристаллов МоО3 методом химического осаждения из паровой фазы (СУБ)
2.1.2 Получение наноструктур МоБ2 методом химического осаждения из паровой
фазы (СУБ)
2.2 Физические основы экспериментальных методов исследования
2.2.1 Метод рентгеновской дифракции (РД)
2.2.2 Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
2.2.3. Спектроскопия диффузного отражения
2.2.4 Рамановская спектроскопия комбинационного рассеяния
3. ОСОБЕННОСТИ СТРУКТУРЫ И ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТРИОКСИДА МОЛИБДЕНА МоО3, ПОЛУЧЕННОГО В РАЗНЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ УСЛОВИЯХ ГАЗОТРАНСПОРТНОГО ОСАЖДЕНИЯ
3.1 Синтез кристаллических образцов Мо03 в разных технологических условиях на пластинах металлического молибдена
3.2 Рентгенофазовый анализ (РФА) полученных образцов. Определение фазового состава дифрактометрическим методом
3.3 Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) образцов Мо03,
3.4 Оптические свойства образцов Мо03 и ширина запрещенной зоны
3.5. Выводы по главе
4. ОСОБЕННОСТИ СТРУКТУРЫ И ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ДИСУЛЬФИДА МОЛИБДЕНА М0Б2, ПОЛУЧЕННОГО В РАЗНЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ УСЛОВИЯХ ГАЗОТРАНСПОРТНОГО ОСАЖДЕНИЯ
4.1 Получение и определение рентгенофазового состава образцов дисульфидов молибдена MоS2, полученных путем осаждения паров серы на металлических
пластинах молибдена в интервале температур 300-1000°С
4.1.1 Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) образцов дисульфидов молибдена MоS2, полученных на металлических пластинах молибдена
4.2 Особенности морфологии и оптических свойств наноструктур МоБ2 различной толщины от мономолекулярного слоя до фракталообразных субструктур, полученных на слюде
4.2.1 Морфология поверхности однослойных и многослойных наноструктур MоS2
4.2.2 Электронное строение и оптические свойства наноструктур MоS2 различной толщины
4.2.3 Спектры комбинационного рассеяния КР
4.3 Выводы по главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ И ОБЩИЕ ВЫВОДЫ ПО ДИССЕРТАЦИИ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
Основные обозначения и сокращения:
ДПМ- дихалькогениды переходных материалов МоО3- триоксид молибдена MoS2- дисульфид молибдена Eg- ширина запрещенной зоны
CVD-chemical vapor deposition -метод осаждения из газовой фазы (ГФО)
ИК- инфракрасная спектроскопия
КР -комбинационное рассеяние96
РД- рентгеновская дифракция
РФА -рентгенофазовый анализ
РС- рамановская спектроскопия
СЭМ- сканирующая электронная микроскопия
УФ- ультрафиолетовая спектроскопия
ФЛ - фотолюминесценция
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб