Во Тан Лонг. Количественный ренгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов
The number of pages:
200
university:
Санкт-Петербург
The year of defence:
1995
brief description:
Во Тан Лонг. Количественный ренгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10.- Санкт-Петербург, 1995.- 14 с.: ил.