catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Зотов, Николай Михайлович. Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновский лучей
- The year of defence:
- 1997
- brief description:
- Зотов, Николай Михайлович. Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновский лучей : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10.- Москва, 1997.- 22 с.: ил.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб