Галкин, Игорь Михайлович. Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции :



  • Название:
  • Галкин, Игорь Михайлович. Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции
  • Кол-во страниц:
  • 200
  • ВУЗ:
  • Курчатовский ин-т
  • Год защиты:
  • 1992
  • Краткое описание:
  • Галкин, Игорь Михайлович. Исследование структуры реальной поверхности полярных граней кристаллов полупроводниковых соединений методом асимптотической брэгговской дифракции : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.01.10 / Курчатовский ин-т.- Москва, 1992.- 20 с.: ил. РГБ ОД, 9 92-3/2904-5
  • Список литературы:
  • -
  • Стоимость доставки:
  • 230.00 руб


ПОИСК ДИССЕРТАЦИИ, АВТОРЕФЕРАТА ИЛИ СТАТЬИ


Доставка любой диссертации из России и Украины