МЕТОДИ ТА КОМПОНЕНТИ КОМП’ЮТЕРНОЇ СИСТЕМИ АВТОМАТИЧНОГО КОНТРОЛЮ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ МІКРОЕЛЕКТРОМЕХАНІЧНИХ СИСТЕМ : МЕТОДЫ И КОМПОНЕНТЫ КОМПЬЮТЕРНОЙ СИСТЕМЫ АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ РЕЗИСТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ МИКРОЭЛЕКТРОМЕХАНИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Краткое описание

Міністерство освіти і науки України
Національний університет “Львівська політехніка”

На правах рукопису

ПУКАЧ АНДРІЙ ІГОРОВИЧ

УДК 004.02; 004.942; 004.414.23

МЕТОДИ ТА КОМПОНЕНТИ КОМП’ЮТЕРНОЇ СИСТЕМИ АВТОМАТИЧНОГО КОНТРОЛЮ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ МІКРОЕЛЕКТРОМЕХАНІЧНИХ СИСТЕМ

05.13.05 – Комп'ютерні системи та компоненти

дисертація на здобуття наукового ступеня
кандидата технічних наук

Науковий керівник —
доктор технічних наук,
професор Теслюк В.М.

Ідентичність усіх примірників дисертації
ЗАСВІДЧУЮ:
Вчений секретар спеціалізованої
вченої ради /Я. Луцик/

Львів – 2013

ЗМІСТ
ВСТУП 5
РОЗДІЛ 1. АНАЛІЗ МЕТОДІВ, МОДЕЛЕЙ ТА ЗАСОБІВ ВИЗНАЧЕННЯ ВЕЛИЧИНИ ЕЛЕКТРИЧНОГО ОПОРУ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ 12
1.1. Аналіз методів та засобів визначення величини електричного опору 13
1.1.1. Метод «вольтметра-амперметра» 13
1.1.2. Мостові методи визначення величини електричного опору 15
1.1.3. Компенсаційний метод 21
1.1.4. Визначення величини електричного опору
безконтактними методами 25
1.1.5. Визначення величини електричного опору за
допомогою «електронних омметрів» 31
1.1.6. Визначення величини електричного опору за
допомогою «цифрових омметрів» 34
1.1.7. Диференційний метод визначення величини
електричного опору 42
1.1.8. Компенсаційний метод побудови цифрових пристроїв
для визначення величини електричного опору 44
1.2. Аналіз засобів автоматизації дослідження резистивних параметрів електричних кіл 45
1.3. Аналіз особливостей інтегральних резистивних елементів МЕМС 47
1.4. Висновки до розділу 1 50
РОЗДІЛ 2. РОЗРОБЛЕННЯ МЕТОДУ ТА МОДЕЛЕЙ АВТОМАТИЧНОГО ВИЗНАЧЕННЯ ВЕЛИЧИНИ ЕЛЕКТРИЧНОГО ОПОРУ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ МЕМС 51
2.1. Розроблення алгоритму автоматизації процесу визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 51
2.2. Розроблення структурної моделі представлення процесу автоматизації визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 55
2.3. Розроблення моделі аналізу динаміки процесу автоматичного визначення величини електричного опору на основі кольорових мереж Петрі 57
2.4. Розроблення схемної моделі реалізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 61
2.5. Функціональна модель методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 64
2.6. Оптимізація розробленого методу автоматичного визначення величин електричного опору резистивних параметрів МЕМС 68
2.7. Розроблення мікроконтролера автоматичного контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 79
2.8. Розроблення структури ПЗ міроконтролера автоматичного контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 82
2.9. Висновки до розділу 2 86
РОЗДІЛ 3. РОЗРОБЛЕННЯ МЕТОДУ АВТОМАТИЧНОГО ВИЗНАЧЕННЯ ДІАПАЗОНУ ЗНАЧЕНЬ ВЕЛИЧИНИ ЕЛЕКТРИЧНОГО ОПОРУ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ МЕМС 88
3.1. Розроблення структурної моделі представлення процесу автоматичного визначення наближеного значення, в околі якого знаходиться величина електричного опору резистивного параметра МЕМС 88
3.2. Розроблення алгоритму автоматизації процесу визначення наближеного значення величини електричного опору 93
3.3. Розроблення моделі автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору на основі кольорових мереж Петрі 94
3.4. Функціональна модель методу автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору 98
3.5. Аналіз результатів моделювання 102
3.6. Розширення області значень досліджуваної величини електричного опору на основі рівняння балансу мостової схеми 105
3.7. Автоматичне визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 107
3.8. Розроблення методу автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 109
3.9. Висновки до розділу 3 115
РОЗДІЛ 4. РОЗРОБЛЕННЯ СПЕЦІАЛІЗОВАНОЇ КОМП’ЮТЕРНОЇ СИСТЕМИ АВТОМАТИЧНОГО КОНТРОЛЮ РЕЗИСТИВНИХ ПАРАМЕТРІВ МЕМС 116
4.1. Розроблення структури СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС 117
4.2. Розроблення інформаційних моделей СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС 123
4.3. Лінгвістичне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС 125
4.4. Математичне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС 128
4.5. Технічне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС 131
4.6. Програмна реалізація методу автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 134
4.7. Програмна реалізація методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС 137
4.8. Висновки до розділу 4 146
ОСНОВНІ РЕЗУЛЬТАТИ І ВИСНОВКИ 148
СПИСОК ВИКОРИСТАНОЇ ЛІТЕРАТУРИ 152

ВСТУП

Актуальність теми. На сьогодні в світі одним із найбільш перспективних і динамічних напрямків розвитку сучасної науки та техніки є мікроелектромеханічні системи (МЕМС). Ці мініатюрні пристрої присутні скрізь, непомітно проникнувши практично у всі сфери нашого повсякденного життя. Мобільні телефони, автомобілі, платіжні картки, персональні комп’ютери, ноутбуки та планшети, переносні носії інформації, системи протипожежної безпеки та охоронні системи — все це далеко не повний перелік існуючих сфер застосування МЕМС-технологій.
Стрімкий розвиток МЕМС спричинений, насамперед, рядом беззаперечних переваг цих пристроїв, таких як: мініатюрність, функціональність, надійність, низький рівень енергоспоживання, простота інтегрування та ін. Проте, саме мікронні розміри компонентів МЕМС призводять до необхідності розроблення нових (або удосконалення вже існуючих) методів і засобів автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС.
В Україні розробленням методів і засобів автоматичного визначення та контролю резистивних параметрів електричних кіл займаються працівники багатьох науково-освітніх, науково-дослідних та науково-виробничих закладів, підприємств та організацій, серед яких: Фізико-механічний інститут ім. Г. В. Карпенка НАН України, Національний технічний університет України "Київський політехнічний інститут", Національний університет "Львівська політехніка", Державне Підприємство "Львівський науково-дослідний радіотехнічний інститут", Науково-виробниче об'єднання "Термоприлад" та ін.
Проте, наукові дослідження в даній області не приділяють достатньої уваги розробленню методів і засобів автоматичного контролю резистивних параметрів, адаптованих для МЕМС-технологій. Дана робота присвячена розробленню, власне, таких методів і засобів, а також спеціалізованої комп’ютерної системи (СКС) автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, і дає змогу заповнити існуючу прогалину в науці, в чому і проявляється її актуальність.
Зв’язок роботи з науковими програмами, планами, темами. Дисертаційна робота виконана відповідно до плану держбюджетної теми ДБ/МЕМС «Високошвидкісні інформаційні технології опрацювання даних в мікроелектромеханічних системах на основі вбудованих штучних нейронних мереж», термін виконання з січня 2011 р. по грудень 2012 р. (№ держ. реєстр. 0111U001218), особистий внесок здобувача в якій полягає в розробленні методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС та методу автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
Також здобувач приймав участь у виконанні гранту президента України докторам наук для здійснення наукових досліджень, на тему «Розроблення інформаційних технологій автоматизації структурного синтезу та аналізу мікроелектромеханічних систем»; договір №Ф35/541-2011 (№ держ. реєстр. 0111U009116), в рамках якого здобувачем наповнено конструкторську базу даних (КБД) елементів МЕМС та її інформаційне забезпечення.
Мета і завдання дослідження. Метою дисертаційної роботи є розроблення методів та засобів автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, а також розроблення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, з використанням теорії векторної алгебри.
Досягнення поставленої мети передбачає розв’язання таких задач:
1) здійснення аналізу існуючих методів і засобів визначення величини електричного опору резистивних параметрів електричних кіл, вибір методу, найбільш придатного для розв’язання поставленої задачі автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС;
2) розроблення алгоритмів автоматичного визначення та контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС;
3) розроблення моделей та методів автоматичного визначення та контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС;
4) розроблення схемних моделей реалізації розроблених методів автоматичного визначення та контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС;
5) аналіз розроблених моделей та методів автоматичного визначення та контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС та пошук імовірних шляхів їх покращання та оптимізації;
6) розроблення спеціалізованої комп’ютерної системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС на основі програмних реалізацій розроблених методів, розроблення математичного, інформаційного та лінгвістичного, а також технічного і програмного забезпечення системи.
Об’єктом дослідження є процес визначення та контролю величини електричного опору резистивних параметрів.
Предметом досліджень є методи та засоби автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів.
Методи досліджень. У дисертаційній роботі для розв’язання поставлених задач використовуються: при розробці методів, моделей, засобів і алгоритмів — теорія автоматизації контролю, системного аналізу, теорія кольорових мереж Петрі; при розробці математичного забезпечення — теорія математичного моделювання та векторної алгебри; а при розробці програмних моделей та спеціалізованої комп’ютерної системи — принципи структурного програмування та методологія структурного аналізу і проектування.
Наукова новизна отриманих результатів:
1. Вперше розроблено моделі на основі кольорових мереж Петрі, що дають змогу дослідити динаміку процесу автоматичного визначення величини електричного опору та контролю резистивних параметрів мікроелектромеханічних систем.
2. Вдосконалено метод автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який ґрунтується на побудованому алгоритмі збалансування мостової схеми та моделях, що дає змогу повністю автоматизувати процес визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
3. Вдосконалено метод автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який ґрунтується на розробленому алгоритмі та моделях, і дає змогу визначити зразковий резистор із наперед заданої множини зразкових резисторів, в околі значення якого знаходиться величина електричного опору досліджуваного резистивного параметра МЕМС.
4. Вдосконалено метод автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, що ґрунтується на побудованому алгоритмі та схемній моделі, і дає змогу здійснити вибір границь діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС в автоматичному режимі.
Практичне значення отриманих результатів.
• розроблений мікроконтролер автоматичного контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС на базі мікроконтролера сімейства Arduino забезпечує повну автоматизацію робочого процесу, синхронізуючи роботу основних компонентів у відповідності з розробленим методом автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, а також розроблене відповідне спеціалізоване програмне забезпечення мікроконтролера;
• розроблені схеми реалізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС та методу автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, які враховують особливості та специфіку МЕМС-технологій;
• на основі розроблених методів та їх програмної реалізації побудовано структуру спеціалізованої комп’ютерної системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, розроблений загальний алгоритм роботи основної програми спеціалізованої комп’ютерної системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, а також розроблено математичне, інформаційне, лінгвістичне, технічне та програмне забезпечення спеціалізованої комп’ютерної системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС.
Теоретичні та практичні результати дисертаційної роботи використовуються у Фізико-механічному інститут ім. Г. В. Карпенка НАН України, що підтверджено відповідним актом.
Особистий внесок здобувача. Основні наукові результати теоретичних і практичних досліджень, викладених в дисертації, одержано автором особисто. У друкованих працях, опублікованих у співавторстві, автору належать: [94, 115] – спеціалізована комп’ютерна система автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС; [95] – мікроконтролер автоматичного контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [96, 97, 111] – метод автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [98] – функціональна модель методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [99] – алгоритм та схемна модель оптимізації процесу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [100, 106] – огляд існуючих методів та схем визначення величини електричного опору та обґрунтування використання мостових методів для розв’язання поставленої задачі автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС; [101, 112] – метод автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [102] – функціональна модель методу автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [103] – схемна модель реалізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [104] – структурна модель автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [105, 108] – схемна модель системи дослідження теплового портрету інтегральних пристроїв; [107] – аналіз та обґрунтування використання нейронних мереж для опрацювання нечітких та слабо структурованих даних мікродавачів МЕМС; [109] – концепція дослідження теплового портрету інтегральних пристроїв з допомогою матриці чутливих терморезистивних елементів на базі методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС; [110] – математична модель фільтрації теплового портрету інтегральних пристроїв; [113] – інформаційне та лінгвістичне забезпечення системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС; [114] – технічне забезпечення системи автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС.
Апробація роботи. Основні теоретичні положення та практичні результати дисертаційної роботи доповідалися і обговорювались на наукових семінарах кафедри „Системи автоматизованого проектування” (2010-2013); Міжнародній науково-технічній конференції „Перспективні технології і методи проектування МЕМС” („Perspective Technologies and Methods in MEMS Design”), MEMSTECH, (Поляна – Свалява (Закарпаття), Україна, 2010, 2011, 2012); Міжнародній науково-технічній конференції „Комп’ютерні науки та інформаційні технології” („Computer Sciences and Information Technologies”), CSIT, (Львів, 2010, 2011, 2012); Міжнародній науковій конференції “Інтелектуальні системи прийняття рішень та проблеми обчислювального інтелекту”, ISDMCI, (Україна, Євпаторія, 2012); Міжнародній науково-практичній конференції “Сучасні проблеми і досягнення в галузі радіотехніки, телекомунікацій та інформаційних технологій” (Україна, Запоріжжя, 2012); Українсько-польській науково-технічній конференції “CAD in Machinery Design. Implementation and Educational Issues”, CADMD, (Україна, Львів, 2012); Міжнародній науково-технічній конференції “Досвід розробки і застосування САПР в мікроелектроніці” (“The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics”), CADSM, (Lviv-Polyana, Ukraine, 2011, 2013).
Публікації. За результатами досліджень, які викладені в дисертаційній роботі, опубліковано 22 наукові праці, у тому числі 9 статей у фахових періодичних виданнях України, 1 стаття в іноземному фаховому періодичному виданні, 10 матеріалів міжнародних науково-технічних конференцій та 2 патенти України.
Структура і обсяг роботи. Дисертація складається зі вступу, 4-х розділів, висновків та списку використаних літературних джерел. Загальний обсяг дисертації становить 163 сторінки, у тому числі 82 малюнки та 1 таблиця, список використаних джерел налічує 129 бібліографічних найменувань.

Список литературы

ОСНОВНІ РЕЗУЛЬТАТИ І ВИСНОВКИ

У дисертаційній роботі розв’язано наукову задачу автоматичного контролю резистивних параметрів мікроелектромеханічних систем.
Отримано такі наукові та практичні результати:
1. Розроблено метод автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який ґрунтується на побудованому алгоритмі збалансування мостової схеми та моделях, і дає змогу повністю автоматизувати процес визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
2. Розроблено алгоритм автоматизації процесу визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який ґрунтується на покроковому збалансуванні мостової схеми з метою досягнення стану її рівноваги, і дає змогу визначити вихідні параметри в автоматичному режимі.
3. Розроблено модель аналізу динаміки процесу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС на основі кольорових мереж Петрі.
4. Розроблено схемну модель реалізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, яка враховує особливості та специфіку МЕМС-технологій.
5. Розроблено алгоритм оптимізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який дає змогу зменшити кількість робочих ітерацій до 7 разів шляхом оптимізації процесу збалансування електричного моста на основі прогнозування зміни величини залишкової напруги в околі точки рівноваги електричного моста.
6. Розроблено схемну модель реалізації алгоритму оптимізації методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, яка враховує особливості та специфіку МЕМС-технологій.
7. Розроблений мікроконтролер автоматичного контролю величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС на базі мікроконтролера сімейства Arduino, що забезпечує повну автоматизацію робочого процесу, синхронізуючи роботу основних компонентів у відповідності з розробленим методом автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
8. Розроблене спеціалізоване програмне забезпечення (ПЗ) мікроконтролера, яке в точності емулює роботу відповідної апаратної складової і дає змогу дослідити процес автоматизації контролю резистивних параметрів МЕМС, водночас забезпечуючи додаткову перевірку коректності роботи, а також імовірних проблемних ділянок розроблених алгоритмів, методів, засобів та системи вцілому, для досягнення максимальної точності, швидкодії, ефективності та результативності при розв’язанні поставленої задачі автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС.
9. Розроблено метод автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, який ґрунтується на розробленому алгоритмі та моделях, і дає змогу визначити зразковий електричний опір із наперед заданої множини зразкових резисторів, в околі значення якого знаходиться величина електричного опору досліджуваного резистивного параметра МЕМС.
10. Розроблено алгоритм автоматизації процесу визначення наближеного значення величини електричного опору, який ґрунтується на визначенні зразкового резистора, при ввімкненні якого у схему абсолютне значення залишкової напруги в околі точки сформованого електричного моста є мінімальним.
11. Розроблено модель автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору на основі кольорових мереж Петрі, яка дає змогу дослідити динаміку процесу автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
12. Розроблено структурну модель автоматичного визначення наближеного значення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, яка враховує особливості та специфіку МЕМС-технологій.
13. Розроблено метод автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, що ґрунтується на розробленому алгоритмі та розробленій схемній моделі, і дає змогу здійснити вибір границь діапазону значень величини електричного опору в автоматичному режимі.
14. Розроблено алгоритм автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, що дає змогу автоматично визначити діапазон значень величини електричного опору досліджуваного резистивного параметра МЕМС.
15. Розроблено схемну модель автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС, що враховує особливості та специфіку МЕМС-технологій.
16. Розроблена структура спеціалізованої комп’ютерної системи (СКС) автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, що забезпечує гнучкий механізм внутрішнього інтерфейсу, призначений для обміну даними між її компонентами.
17. Розроблені інформаційні моделі основних компонентів СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, серед яких інформаційні моделі основних підсистем — програмних реалізацій розроблених методів, а також здійснений аналіз взаємодії інформаційних моделей основних компонентів СКС.
18. Розроблена підсистема автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС (ПАВДЗ), яка являється програмною реалізацією розробленого методу автоматичного визначення діапазону значень величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
19. Розроблена підсистема автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС (ПАВВЕО), яка являється програмною реалізацією розробленого методу автоматичного визначення величини електричного опору резистивних параметрів МЕМС.
20. Розроблене лінгвістичне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС на базі мови XML.
21. Розроблене математичне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, що включає ряд математичних засобів для опрацювання отриманих результатів з метою максимальної мінімізації імовірних побічних зовнішніх впливів, яких зазнає об’єкт або система в процесі дослідження.
22. Розроблене технічне забезпечення СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС, що забезпечує можливість функціонування системи в трьох основних режимах роботи, розширюючи, таким чином, область розв’язуваних системою задач, пов’язаних з контролем резистивних параметрів мікроелектромеханічних систем.
23. Здійснене моделювання роботи розробленої СКС автоматичного контролю резистивних параметрів МЕМС на прикладі дослідження тензорезистора та проведено детальний аналіз отриманих результатів.

СПИСОК ВИКОРИСТАНОЇ ЛІТЕРАТУРИ

1. Poole C.P., Owens F.J., Introduction to Nanotechnology Wiley-Interscience 2003, p. 400
2. Marc J. Madou Fundamentals of Microfabrication: The Science of Miniaturization, — 2nd edition: CRC Press, 2002 — 752 p.
3. Minhang Bao Analysis and Design Principles of MEMS Devices, — 1st edition: Elsevier Science, 2005 — 328 p.
4. James J. Allen Micro Electro Mechanical System Design, — 1st edition: CRC Press, 2005 — 496 p.
5. Броудай И., Мерей Дж. Физические основы микротехнологии / Пер. с англ. – М.: Мир, 1985. – 496 с.
6. Колпаков Ф.Ф., Борзяк Н.Г., Кортунов В.И.. Микроэлектромеханические устройства в радиотехнике и системах телекоммуникаций – Учеб. пособие. – Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т «Харьк. авиац. ин-т», 2006. – 82 с.
7. Пятнышев Е.Н., Лурье М.С., Попова И.В., Казакин А.Н. Специфика технологии микроэлектромеханических устройств. – Микросистемная техника, 2001, №6, с. 32–35.
8. Распопов В.Я. Микромеханические приборы: учебное пособие. — М.: Машиностроение, 2007. — 400с.
9. Рубцов И. В. Современная зарубежная военная микро- и мини-робототехника / И. В. Рубцов, В. Е. Нестеров, В. И. Рубцов // Микросистемная техника.— 2000.— №3.— С. 36—42.
10. Колпаков Ф. Ф. Микроэлектромеханические устройства в радиотехнике и системах телекоммуникаций : [учеб. пособие] / Ф. Ф. Колпаков, Н. Г. Борзяк, В. И. Кортунов.— Харьков : НAУ ХАИ, 2006.— 82 с.
11. Капустян А. Применение МЭМС — технологий в космической отрасли / А. Капустян // Chip News / Инженерная практика.— 2007.— №1 (114).– с.52–55.
12. Датчики нового поколения для вооружений и военной техники / [Блинов A., Гамкрелидзе С., Критенко М. и др.] // ЭЛЕКТРОНИКА : Наука, Технология, Бизнес.— 2003.— №2.— С. 50—53.
13. Zheng C. Nanofabrication challenges for NEMS / C. Zheng, G. Changzhi // 1st IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems.— 2006.— Jan.— P. 607—610.
14. Мальцев П. Л. II Интегрированные технологи микросистемной техники / П. Л. Мальцев, B. A. Телец, А. Ю. Никифоров // Микросистемная техника.— 2001.— №11.— С. 22—24.
15. Persson A. Micro- and nanostructured magnetic field sensor for space applications / A. Persson // International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems.— 2009..— P. 1190—1193.
16. English J. M. Wireless micromachined ceramic pressure sensors / J. M. English, M. G. Allen // Proc. of the 12th Annual Intern. Conf. on Micro Electro Mechanical Systems.—Orlando, Florida, USA.— 1999.— P.511-516.
17. Kong Y. Novel self-oscillating anemometer with capacitance-based sensing / Y. Kong // Proc. SPIE.— 2000.— Vol. 4230.— P. 84—88.
18. V. K. Varadan. RF MEMS and their applications / V. K. Varadan, K. J. Vinoy, K. A. Jose.— London: John Wiley, 2003.– P. 387.
19. Белявский В. И. Физические основы полупроводниковой нанотехнологии / В. И. Белявский // Cоросовский общеобразовательный Журнал.— 1998. №10. — с. 92—98.
20. Малышева И. А. Технология производства интегральных микросхем.: Учебник для техникумов / И. А. Малышева.— 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Радио и связь, 1991.— 344 с.
21. Tsuruta К. Micro sensor developments in Japan / Tsuruta К. // Sensor review.— 1999. — Vol. 19, №1.— P. 37—42.
22. Новые конструкции и технологии создания гибких зеркал для адаптивных оптических систем / [А. Е. Панич, А. И. Сокалло, Е. А. Гришин, Г. А. Житомирский] // Материалы Международной научно-практической конференции “Пьезотехника–2000”.— М.: МИРЭА,.— 2001.— с. 139—143.
23. Kruglick J. J. EFAB Technology and Applications / J. J. Kruglick, A. Cohen, C. Bang // MEMS: Design and Fabrication / [Mohamed Gad—el—Hak, ed.]. — 2nd ed.— Boca Raton: CRC Press, 2006.— 664 p.
24. Saile V. LIGA and its applications / V. Saile, U. Wallrabe, O. Tabata.— Wiley-VCH, 2009.— 479 p.
25. Shepherd E. Prototyping With SUMMiTTM Technology, Sandia's Ultra—Planar Multi-Level MEMS Technology / E. Shepherd // Proc. of the International Mechanical Engineering Congress and Exposition.— USA, 2002.— P.529—534.
26. Michalicek M. A. Design and fabrication of optical MEMS using a four-level planarized surface—micromachined polycrystalline silicon process / M. A. Michalicek, J. H. Comtois and H. K. Schriner // Proc. SPIE 3276, 207.— USA, 1998.– P. 48.
27. Рубцов И.В., Нестеров В.Е., Рубцов В.И. Современная зарубежная военная микро- и мини-робототехника. // Микросистемная техника. 2000. №3. с. 36-42.
28. Жирнов М.А. Микрокосмические информационные аппараты на основе микросистемной техники // Микросистемная техника. 2000, № 2. С.35-37.
29. Малов В.В. Пьезорезонансные датчики / 2-е изд., перераб. и доп. М.: Энергоатомиздат, 1989. — 272 с.
30. Журавлёв Л.Г., Филатов В.И. Физические методы исследования металлов и сплавов: Учебное пособие для студентов металлургических специальностей. - Челябинск: Изд-во ЮУрГУ, 2004. - 157 с.
31. Основы метрологии и электрические измерения. /Под ред. Е.М. Душина/ — Л. «Энергоатомиздат», 1987 – 480с.
32. Електричні вимірювання електричних і неелектричних величин / За ред. Є.С. Поліщука. – К.: Вища школа, 1978. – 351 с.
33. Поліщук Є.С., Дорожовець М.М., Яцук В.О. та ін. Метрологія та вимірювальна техніка: Підручник / Є.С. Поліщук, М.М. Дорожовець, В.О. Яцук, В.М. Ванько, Т.Г. Бойко; За ред. проф. Є.С. Поліщука. – Львів: Видавництво “Бескид Біт ”, 2003. – 544 с.
34. Автоматические измерения и приборы (аналоговые и цифровые) / П. П. Орнатский.— 5-е изд., перераб. и доп.— К.; Вища шк. Головное изд-во, 1986.—604 с
35. Физические свойства металлов и сплавов / Б.Г. Лившиц, В.С. Крапошин, Я.Л. Линецкий. - М.: Металлургия, 1980. - 320с.
36. Демин Ю.Н. Физика металлов. учеб. пособие / Ю. Н. Демин. - М. : МГИУ, 2003. — 264 с.
37. Р. Ринкунас, С. Кускявичюс. Бесконтактный метод измерения сопротивления// Журнал технической физики. — 2009, том 79, вып. 1. — с. 134-139.
38. А.С. 313174 СССР. Цыфровой омметр / Иванцив Роман Дмитриевич и Тафель В.М. (СССР). – №1444263 с приоритетом от 26 мая 1970г.; Зарегестрировано 2 июня 1971г.
39. Яцук В. Диференційний метод вимірювання електричного опору. // Вимірювальна техніка та метрологія, 2001, №58, ст. 32-37.
40. Яцук В. Компенсаційний метод побудови цифрових омметрів. // Вісник НУЛП «Автоматика, вимірювання та керування» — 2001, №420, ст. 99-102.
41. Автоматизация измерений и контроля электрических и неэлектрических величин: Учебное пособие для вузов / Под ред. А. А. Сазонова. — М. :Изд-во стандартов, 1987. –328 с.
42. Котенко Г.И. Магниторезисторы. Л., "Энергия", 1972, 80с.
43. Информационный бюллетень ПерсТ: Перспективные Технологии - наноструктуры, сверхпроводники, фуллерены. — Том 11, Выпуск 13 — от 15 июля 2004 [Електронний ресурс]: — Режим доступу: http://issp.ras.ru/Control/Inform/perst/2004/4_13/PersT4_13.pdf
44. Основи метрології та вимірювальної техніки: Підручник: У 2 т./ М.Дорожовець, В. Мотало, Б. Стадник та ін; за редакцією Б. Стадника.-Львів., Видавництво Національного університету ‘Львівська політехніка’, 2005. 532 с. Метрологія та вимірювальна техніка. – Львів: Бескид біт, 2003. -544с.
45. Седалищев В.Н. Методы и средства измерений электрических величин. Учебное пособие. – Барнаул: Изд-во АлтГТУ, 2008. – 160 с.
46. А.Г. Дивин, С.В. Пономарев. Методы и средства измерений, испытаний и контроля : учебное пособие. В 5 ч. / А.Г. Дивин, С.В. Пономарев. – Тамбов : Изд-во ГОУ ВПО ТГТУ, 2011. – Ч. 1. – 104 с.
47. Походило Є. В. Вимірювачі CLR з перетворенням імітанс-напруга : монографія / Є. В. Походило, В. В. Хома ; Нац. ун-т Львів. політехніка. - Л. : Вид-во Львів. політехніки, 2011. – 289с.
48. Походило Є.В. Умови роздільного вимірювання складових імітансу методом прямого перетворення // Вимірювальна техніка та метрологія. - 2002.- Вип. 60 – С. 11 - 14.
49. Походило Є.В. Універсальний вимірювач CLR-параметрів імітансних первинних перетворювачів // Вісник ДУ “Львівська політехніка”. Автоматика, вимірювання та керування. – 2000. - № 419. – С. 136 - 140.
50. Гаврилюк М.О., Походило Є.В., Соголовський Є.П., Хома. В. В. Вимірювачі імітансу з прямим перетворенням // Вимірювальна техніка та метрологія. – 1996. - Вип. 52. - С. 27-29.
51. Гаврилюк М.О., Походило Є.В., Хома. В. В. Перетворювач імітансу для систем автоматичного контролю // Вимірювальна техніка та метрологія. – 1995. – Вип. 51. - С. 96 -97.
52. Гаврилюк М.О., Походило Є.В., Хома. В. В. Портативний вимірювач CLR АК-121 // Вісник ДУ “Львівська політехніка”. Автоматика, вимірювання та керування. – 1994. - №283. - С. 57 -58.
53. Автоматизация машиностроения: Н. М. Капустин, Н. П. Дьяконова, П. М. Кузнецов — Москва, Высшая школа, 2002 г.- 224 с.
54. Единицы измерений и соотношения между ними: — Москва, АСТ, Астрель, 2004 г.- 256 с.
55. Измерения в криминалистике. Методические основы. О юридической силе результатов измерений: Д. Ф. Тартаковский, Ю. В. Гальцев, В. В. Гарманов — Санкт-Петербург, ДНК, 2010 г.- 124 с.
56. Измерительная информация в системе доказательств: Д. Ф. Тартаковский — Москва, Издательство Р. Асланова "Юридический центр Пресс", 2003 г.- 172с.
57. Общая теория измерений: С. С. Анцыферов, Б. И. Голубь — Санкт-Петербург, Горячая Линия - Телеком, 2006 г.- 176 с.
58. Ошибки измерений физических величин: З. А. Зайдель — Москва, Лань, 2005г. — 112 с.
59. Джеймс Питерсон Теория сетей Петри и моделирование систем: Пер. с англ. — М.:Мир, 1984.-264с.
60. Котов В.Е. Сети Петри.— М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1984.— 160 с.
61. Васильев В.В., Кузьмук В.В. Сети Петри, параллельные алгоритмы и модели мультипроцессорных систем. К.: Наук, думка, 1990. — 216с.
62. James L. Peterson A Note on Colored Petri Nets, Information Processing Letters, Volume 11, Number 1, (August 1980), pages 40-43.
63. Kurt Jensen, Lars M. Kristensen. Coloured Petri Nets: modelling and validation of concurrent systems: 1st edition – Springer, 2009 — 395 p.
64. Arduino HomePage. [електронний ресурс]. — Режим доступу: http://www.arduino.cc/
65. Крэг Ларман. Применение UML 2.0 и шаблонов проектирования = Applying UML and Patterns : An Introduction to Object-Oriented Analysis and Design and Iterative Development. — 3-е изд. — М.: Вильямс, 2006. — 736 с.
66. Грейди Буч, Джеймс Рамбо, Айвар Джекобсон. Язык UML. Руководство пользователя = The Unified Modeling Language user guide. — 2-е изд. — М., СПб.: ДМК Пресс, Питер, 2004. — 432с.
67. Буч Г., Якобсон А., Рамбо Дж. UML. Классика CS. 2-е изд. / Пер. с англ.; Под общей редакцией проф. С. Орлова — СПб.: Питер, 2006. — 736 с.
68. Х. Гома. UML: Проектирование систем реального времени, распределенных и параллельных приложений.: ДМК-Пресс, 2011. — 704 стр.
69. М. Фаулер , К. Скотт. UML в кратком изложении. Применение стандартного языка объектного моделирования.: Пер. с англ. — М.: Мир, 1999. — 191 с.
70. Хабибуллин И.Ш. Самоучитель XML. - СПб.: БХВ-Петербург, 2003. - 336 с.
71. Спенсер П. XML. Проектирование и реализация. Программирование с помощью XML, ASP и IE5. Серия:Программист программисту М. Лори 2001г. 509 с.
72. Шеперд Деван, Освой самостоятельно XML за 21 день, 2-е издание. : Пер. с англ. — Издательский дом «Вильямс», 2002. — 432 с.
73. Гарольд Э. Минс С. XML. Справочник. — Пер. с англ. — СПб: Символ-Плюс, 2002. — 576 с.
74. Рэй Э. Изучаем XML. – Пер. с англ. – СПб: СимволПлюс, 2001. – 408 с.
75. Холзнер С. XML. Энциклопедия, 2-е изд. СПб.: Питер, 2004. — 1101 с.
76. Заикин О.А., Советов Б.Я. Проектирование интегрированных систем обработки информации и управления. Учебное пособие. — М., МГАП “Мир Книги”, 1994.
77. Марка Д., МакГоуэн К. Методология структурного анализа и проектирования / Пер. с англ. — М.: 1993. — 231 с.
78. Методы математического моделирования измерительно-вычислительных систем: Ю. П. Пытьев — Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2004 г.— 400 с.
79. Панфилов И.П., Дырда В.Е Теория электрической святи. — М.:Радио и связь, 1991. —334с.
80. Воскобойников Ю.Е. Фильтрация сигналов и изображений: фурье и вейвлет алгоритмы (с примерами в Mathcad) / Ю.Е. Воскобойников, А.В. Гочаков, А.Б. Колкер. — Новосибирск. Новосибирский государственный архитектурно-строительный университет(Сибстрин), 2010. — 188 c.
81. И.М.Дремин, О.В.Иванов, В.А.Нечитайло, Вейвлеты и их использование. — Успехи физических наук, 2001, — т. 171 (5), 465-501.
82. Проценко М. М. Методика фільтрації цифрових сигналів з використанням вейвлет-перетворення. Збірник наукових праць ЖВІ НАУ, Випуск 1: Житомир — 2008, с. 116-122.
83. Б.Благітко, В.Бригілевич, І.Ярмоловський Виділення сигналу з суміші сигнал-шум за допомогою вейвлет-перетворення // Вісник Львівського університету. Серія фізична. Випуск 39, 2006.- С. 300-306.
84. Введение в вейвлет-анализ: Учеб.-практическое пособие. М.Н.Юдин, Ю.А.Фарков, Д.М.Филатов. Моск. геологоразв. акад. М.,2001. 72 с.
85. Mallat S. Multiresolution approximation and wavelet orthonormal bases of L^2(R) / S. Mallat // Trans. AMS. – 1989. – V. 315, № 1. – P. 69–87.
86. Mallat S. А theory of multiresolution signal decomposition: the wavelet representation / S. Mallat // IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. – 1989. – V. 11, № 9. – P. 674–693.
87. Быкова Т. В. Повышение точности тензометрических измерительных преобразователей в динамических режимах с использованием аппарата вейвлет-преобразования/Т. В. Быкова, Г. А. Черепащук // Український метрологічний журнал. — Харків:Державне науково-виробниче об'єднання "Метрологія", 2009, №4. — с. 35-41.
88. Добеши И., Десять лекций по вейвлетам, «Регулярная и хаотическая динамика», Ижевск, 2001, — 464 с.
89. Макс Ж., Методы и техника обработки сигналов при физических измерениях, т.1, Основные принципы и классические методы. — Пер. с англ., «Мир», Москва, 1983, — 312 с.
90. Рабинер Л., Гоулд Б., Теория и применение цифровой обработки сигналов, пер. с англ., «Мир», Москва, 1978, — 835 с.
91. Н. И. Чернова, Математическая статистика, Учебное пособие, Новосибирск, 2007, — 148 с.
92. Яковлев А.Н., Введение в вейвлет-преобразование, Из-во НГТУ, Новосибирск, 2003, 104 с.
93. Ярославский Л.П., Введение в цифровую обработку изображений, «Советское радио», Москва , 1979, —312 с.
94. Пукач А.І., Теслюк В.М., Іванців Р.-А.Д. Розроблення спеціалізованої компютерної системи для автоматичного контролю величини резистивних параметрів мікроелектромеханічних систем // Зб. наук. пр. ІППМЕ ім.Г.Є.Пухова НАН України. – Київ, 2012, Вип. 64. – С.197 – 202.
95. Пукач А.І., Теслюк В.М., Теслюк Т.В. Розроблення мікроконтролера спеціалізованої комп’ютерної системи автоматичного контролю величини резистивних параметрів мікроелектромеханічних систем // Зб. наук.-техн. пр. : Науковий Вісник НЛТУ України. - 2013. - Вип.23.2. - С. 346 - 352.
96. A. Pukach, V. Teslyuk, R. A. Ivantsiv, P. Komada: Method and means of measuring small quantities of electrical resistance. "Informatyka Automatyka Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska" ("Informatics Control Measurement in Economy and Environment Protection"), Kwartalnik Naukowo-Techniczny, ISSN 2083-0157, n.4b/2012, p.14-16.
97. Теслюк В.М., Пукач А.І., Іванців Р.-А. Д., Лобур М.В. Розроблення методу вимірювання малих величин електричного опору // Моделювання та інформаційні технології. Зб. наук. пр. ІППМЕ ім.Г.Є.Пухова НАН України. – Київ, 2012, Вип. 63. – с.111 – 118.
98. Пукач А.І., Теслюк В.М., Іванців Р.-А. Д. Модель функціонування системи вимірювання малих величин електричного опору // Зб. наук. пр. ІППМЕ ім.Г.Є.Пухова НАН України. – Київ, 2012, Вип. 62. – с.131 – 138.
99. Пукач А.І., Теслюк В.М., Загарюк Р.В. Оптимізація роботи системи вимірювання малих величин електричного опору // Моделювання та інформаційні технології. Зб. наук. пр. ІППМЕ ім.Г.Є.Пухова НАН України. – Київ, 2012, Вип. 64. – с.156 – 164.
100. Пукач А., Іванців Р., Теслюк В. Методи та схеми вимірювання значення невідомого опору електричного кола. Технічні вісті: Науково-публіцистичний часопис "Львівська політехніка". Львів: Видавництво НУ"Львівська політехніка". - 2010/ 1(33), 2(34) — с. 160 – 163.
101. Пукач А., Теслюк В., Іванців Р.-А., Лобур М. Розроблення методу визначення діапазону значень величини вимірюваного електричного опору // Вісник «Комп’ютерні науки та інформаційні технології». — Львів, 2012. Вип. №744. — ст. 227 – 232.
102. Пукач А.І., Теслюк В.М., Іванців Р.-А. Д., Загарюк Р.В. Модель функціонування підсистеми автоматичного визначення діапазону значень величини вимірюваного електричного опору // Збірник науково-технічних праць «Вісник НЛТУ України». — Львів, 2012, Вип. 22.11. — с. 346 – 355.
103. Пукач А.І., Іванців Р.-А.Д, Теслюк В.М., Лобур М.В. Пристрій для вимірювання електричного опору. Патент на корисну модель №73621 Україна, G01R 17/00. u 2012 05676.
104. Пукач А.І., Іванців Р.-А.Д, Теслюк В.М., Лобур М.В. Пристрій для автоматичного визначення діапазону значень величини вимірюваного електричного опору. Патент на корисну модель №78173 Україна, G01R 17/00. u 2012 10529.
105. Пукач А., Теслюк В., Іванців Р.-А., Загарюк Р. Розроблення схемної моделі системи вимірювання та аналізу теплового портрету інтегральних пристроїв // Вісник «Комп’ютерні науки та інформаційні технології». — Львів, 2012. Вип. №732. — ст. 85-90.
106. Andriy Pukach, Roman Ivantsiv, Vasyl Tesljuk, Methods and schemes of measuring the electric circuit resistance parameter value, Proc. of the VI-th International Conference MEMSTECH’2010 – Lviv - Polyana, 2010 — p. 131 – 134.
107. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman Tkachenko, Roman-Andriy Ivantsiv. Implementation of neural networks for fuzzy and semistructured data. Proc. of the XI Intern. Conf. on The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM'2011). - Lviv - Polyana: Publishing House Vezha&Co. 2011. - Pp. 350 - 352.
108. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman-Andriy Ivantsiv, The method of investigation of thermal portrait of integrated devices with a matrix of sensitive termistor elements, Proc. of the International Conference MEMSTECH’2011 – Polyana-Svalyava (Zakarpattya), Ukraine, 2011, pp. 16 – 17.
109. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman-Andriy Ivantsiv, Roman Zaharyuk. Development of Schematic Model for Measurement and Analysis of Thermal Portrait of Integrated Devices, Proc. of the VIII-th International Conference MEMSTECH’2012, Lviv – Polyana: Publishing House Vezha&Co. 2012. – Pp.3-4.
110. Пукач А.І., Теслюк В.М., Іванців Р.-А.Д., Загарюк Р.В. Розроблення математичної моделі фільтрації теплового портрету інтегральних пристроїв, Тези Міжнародної наукової конференції “Інтелектуальні системи прийняття рішень та проблеми обчислювального інтелекту” (ISDMCI’2012) — Україна, Євпаторія, 2012. — ст. 161-163.
111. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Pavlo Denysyuuk Development of small electric resistance measuring method, Тези VI Міжнародної науково-практичної конференції “Сучасні проблеми і досягнення в галузі радіотехніки, телекомунікацій та інформаційних технологій” — Україна, Запоріжжя: ЗНТУ, 2012. — ст. 258-260.
112. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman Zaharyuk Development of method for measured electric resistance value range determining, Тези VI Міжнародної науково-практичної конференції “Сучасні проблеми і досягнення в галузі радіотехніки, телекомунікацій та інформаційних технологій” — Україна, Запоріжжя: ЗНТУ, 2012. — ст. 256-258.
113. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman-Andriy Ivantsiv, Iaroslav Vasyliuk Development of Informational and Linguistic Support of Automatic Electrical Resistance Measuring System for MEMS, Proc. of the XX Ukrainian-Polish Conference он CAD in Machinery Design. Implementation and Educational Issues – CADMD 2012, Lviv, Ukraine, 2012, — Pp. 69-75.
114. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman-Andriy Ivantsiv, Pavlo Denysyuk Development of Technical Support of Automatic Electric Resistance Measuring System for MEMS, Proc. of the 7th International Scientific and Technical Conference “Computer Sciences and Information Technologies” (CSIT’2012) — Lviv, Ukraine, 2012. — pp. 138-139.
115. Andrii Pukach, Vasyl Teslyuk, Roman-Andriy Ivantsiv, Pavlo Denysyuk, Development of MEMS resistive parameters automatic control specialized computer system, Proc. of the International Conference CADSM’2013 – Polyana-Svalyava (Zakarpattya), UKRAINE, 2013. — p. 438.
116. Буч, Гради, Максимчук, Роберт Α., и др., Объектно-ориентированный анализ и проектирование с примерами приложений, 3-е изд.: Пер. с англ. - М.: ООО "И.Д. Вильяме", 2008. - 720 с.:ил. — Парал. тит. англ..
117. Калянов Г.Н. CASE. Структурный системный анализ (автоматизация и применение). — М., "Лори", 1996. — 242 с.
118. Липаев В.В. Системное проектирование сложных программных средств для информационных систем. — М.: Синтег, 2002, — 268с.
119. Салли Шлеер, Стефан Меллор Объектно-ориентированный анализ: моделирование мира в состояниях. — Киев: Диалектика, 1993. — 240 с.
120. Конопка Рей. Создание оригинальных компонентов в среде DELPHI / под ред. Дж. Дантемана. — Киев: DiaSoft, 1996. — 512 c.
121. Тейксейра С., Пачеко К. Borland Delphi 6. Руководство разработчика. М. : Издательский дом Вильямс, 2002. — 1120 с. : ил. — Парал. тит. англ.
122. Кэнту М. Delphi 7: Для профессионалов — СПб.: Питер, 2004. — 1101 c.
123. Д. Леффингуэлл , Д. Уидриг. Принципы работы с требованиями к программному обеспечению. Пер. с англ. – М: «Вильямс», 2002. – 448 с.
124. Э. Кармайкл, Д. Хейвуд. Быстрая и качественная разработка программного обеспечения.: Пер. с англ. — М.: Вильямс, 2003. — 400с.
125. А. Коберн. Современные методы описания функциональных требований к системам.: Пер. с англ. — М.: ЛОРИ, 2002. — 263 с.
126. С.Р. Палмер , Дж.М. Фелсинг Практическое руководство по функционально-ориентированной разработке ПО.: Пер. с англ. — М.: Вильямс, 2002. — 304с.
127. С. Орлова. Технологии разработки программного обеспечения: Учебник / С. Орлова. — СПб.: Питер, 2002.— 464 с.
128. Иванова Г. С. Технология проектирования: Учебник для вузов. — М.: Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана,2002. — 320 с.
129. Брауде Э. Технология разработки программного обеспечения. — СПБ.: Питер, 2004. — 655 с.