Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Метрология и метрологическое обеспечение
скачать файл:
- Название:
- Сичікова Яна Олександрівна Науково- методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників
- Альтернативное название:
- Сычикова Яна Александровна Научно методологические основы оценки качества и свойств наноструктур на поверхности полупроводников
- ВУЗ:
- Інститут метрології
- Краткое описание:
- Сичікова Яна Олександрівна, доцент кафедри професійної освіти, трудового навчання та технологій Бердянського державного педагогічного університету: «Науково- методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників» (05.01.02 - стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення). Спецрада Д 64.827.01 у ННЦ «Інститут метрології» Мінекономрозвитку України
- Стоимость доставки:
- 200.00 грн