Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Приборы и методы контроля и определения состава веществ
- Название:
- Высоких Юрий Евгеньевич. Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок
- ВУЗ:
- ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
- Краткое описание:
- Высоких Юрий Евгеньевич. Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок: автореферат дис. ... кандидата Технических наук: 05.11.13 / Высоких Юрий Евгеньевич;[Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»], 2019
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб