Аль Матариех Рами. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования
Кол-во страниц:
200
ВУЗ:
Харьков
Год защиты:
2000
Краткое описание:
Аль Матариех Рами. Методы и алгоритмы оценки тестопригодности цифровых устройств на этапе проектирования : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.12.- Харьков, 2000.- 18 с.: ил.