Айрапетян, Вачаган Каранович. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки



  • Название:
  • Айрапетян, Вачаган Каранович. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки
  • Кол-во страниц:
  • 200
  • ВУЗ:
  • Всерос. электротехнич. ин-т
  • Год защиты:
  • 1994
  • Краткое описание:
  • Айрапетян, Вачаган Каранович. Исследование надежности силовых транзисторов и разработка методов их отбраковки : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / Всерос. электротехнич. ин-т.- Москва, 1994.- 28 с.: ил. РГБ ОД, 9 94-2/2789-2
  • Список литературы:
  • -
  • Стоимость доставки:
  • 230.00 руб


ПОИСК ДИССЕРТАЦИИ, АВТОРЕФЕРАТА ИЛИ СТАТЬИ


Доставка любой диссертации из России и Украины