Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантов
скачать файл:
- Название:
- Овчаренко, Евгений Николаевич. Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур
- ВУЗ:
- НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина
- Краткое описание:
- Овчаренко, Евгений Николаевич. Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / НИИ физических проблем им. Ф. В. Лукина.- Москва, 1993.- 24 с.: ил. РГБ ОД, 9 94-1/575-4
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб