Винокуров Александр Александрович Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания

Краткое описание

Винокуров Александр Александрович Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания
ОГЛАВЛЕНИЕ ДИССЕРТАЦИИ
кандидат наук Винокуров Александр Александрович
СОДЕРЖАНИЕ

Введение

ГЛАВА 1 Методы обеспечения качества и надежности интегральных схем

1.1 Методы прогнозирующей оценки надежности интегральных схем

1.2 Методы диагностики по электрическим информативным параметрам

1.3 Диагностика ИС с использованием критического напряжения питания

1.4 Использование внешних дестабилизирующих факторов при диагностике ИС

1.5 Моделирование информативных параметров ИС

Выводы

ГЛАВА 2 ДИАГНОСТИКА ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ КРИТИЧЕСКОГО НАПРЯЖЕНИЯ ПИТАНИЯ И ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКИХ РАЗРЯДОВ

2.1 Влияние ЭСР на КНП КМОП ИС

2.2 Влияние ЭСР на КНП биполярных ИС

2.3 Способ отбора ИС по стойкости к ЭСР

2.4 Влияние ЭСР на электрические параметры ИС при критическом напряжении питания

2.4.1 Влияние ЭСР на электрические параметры ИС

2.4.2 Способ выделения интегральных схем повышенной надёжности

2.5 Оценка надёжности ИС по электрическим параметрам при КНП в динамическом режиме работы

2.5.1 Установка для формирования тестовых сигналов

2.5.2 Использование частотных характеристик ИС для оценки их потенциальной надежности

2.5.3 Влияние ЭСР на частотные свойства ИС при критическом напряжении питания

Выводы

ГЛАВА 3 Диагностика интегральных схем с использованием критического напряжения и связанных с ним электрических информативных параметров

3.1 Влияние температуры на критические напряжения питания КМОП цифровых ИС

3.2 Влияние температуры на критические напряжения питания биполярных цифровых ИС

3.3 Влияние температуры на КНП аналоговых ИС

3.4 Способ диагностики логических ИС по частотным параметрам

3.5 Способ разделения ИС по надёжности по значениям КНП

3.6 Диагностика микроконтроллеров методом критического напряжения питания

3.6.1 Диагностика ядра микроконтроллера

3.6.2 Диагностика разных функциональных блоков микроконтроллера по КНП

Выводы

ГЛАВА 4 Моделирование информативных параметров интегральных схем

4.1 Моделирование критического напряжения питания КМОП-инвертора

4.2 Моделирование информативных параметров при изменении SPICE-параметров транзисторов

4.3 Моделирование информативных параметров, связанных с КНП

4.3.1 Моделирование токов в инверторе

4.3.2 Моделирование КМОП инвертора с нагрузкой

4.3.3 Моделирование частотной зависимости критического напряжения питания

4.4 Моделирование D-триггера

Выводы

Заключение

Список литературы