ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Авторские отчисления 70% |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Акция - новый год вместе! |
ПОСЛЕДНИЕ ОТЗЫВЫ
Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантов
- Название:
- Шиколенко Юрий Леонидович. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти
- Кол-во страниц:
- 179
- ВУЗ:
- Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники
- Год защиты:
- 2016
- Краткое описание:
- Шиколенко Юрий Леонидович. Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти: диссертация ... кандидата Технических наук: 05.27.01 / Шиколенко Юрий Леонидович;[Место защиты: Московский государственный университет информационных технологий, радиотехники и электроники].- Москва, 2016.- 179 с.
- Список литературы:
- -
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб
