Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантов
- Название:
- Сафонов Сергей Олегович. Исследование и разработка неразрушающих ускоренных методов прогнозирования электромиграционной стойкости металлической разводки интегральных схем
- ВУЗ:
- Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
- Краткое описание:
- Сафонов Сергей Олегович. Исследование и разработка неразрушающих ускоренных методов прогнозирования электромиграционной стойкости металлической разводки интегральных схем: диссертация ... кандидата технических наук: 05.27.01 / Сафонов Сергей Олегович;[Место защиты: Национальный исследовательский университет «МИЭТ»].- Москва, 2015.- 109 с.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб