Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантов
- Название:
- Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- ВУЗ:
- Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный универ
- Краткое описание:
- Чжо Ко Вин . Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем: диссертация ... кандидата технических наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин ;[Место защиты: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"].- Москва, 2014.- 99 с.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб