Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем



  • Название:
  • Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
  • Кол-во страниц:
  • 99
  • ВУЗ:
  • Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный универ
  • Год защиты:
  • 2014
  • Краткое описание:
  • Чжо Ко Вин . Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем: диссертация ... кандидата технических наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин ;[Место защиты: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"].- Москва, 2014.- 99 с.
  • Список литературы:
  • -
  • Стоимость доставки:
  • 230.00 руб


ПОИСК ДИССЕРТАЦИИ, АВТОРЕФЕРАТА ИЛИ СТАТЬИ


Доставка любой диссертации из России и Украины