Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Технология приборостроения
скачать файл:
- Название:
- Тюриков Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Краткое описание:
- Тюриков Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : Дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 : Ижевск, 2004 174 c. РГБ ОД, 61:05-1/439
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб