catalog / TECHNICAL SCIENCES / Technology, equipment and production of electronic equipment
скачать файл: 
- title:
- Буздуган Алексей Анатольевич. Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС
- university:
- Моск. гос. ин-т электронной техники
- The year of defence:
- 2008
- brief description:
- Буздуган Алексей Анатольевич. Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.06 / Буздуган Алексей Анатольевич; [Место защиты: Моск. гос. ин-т электронной техники].- Москва, 2008.- 147 с.: ил. РГБ ОД, 61 09-5/975
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб