catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Дунаевский Михаил Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография
- university:
- Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе РАН
- The year of defence:
- 2007
- brief description:
- Дунаевский Михаил Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия заращенных Si,Ge наноразмерных островков : диагностика и зарядовая нанолитография : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 / Дунаевский Михаил Сергеевич; [Место защиты: Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе РАН].- Санкт-Петербург, 2007.- 163 с.: ил. РГБ ОД, 61 07-1/1319
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб