catalog / Physics and mathematics / Condensed Matter Physics
скачать файл: 
- title:
- Электронно-микроскопические исследования структуры поверхностных углеродных и металлических нанообъектов Гришина Яна Сергеевна
- Альтернативное название:
- Electron microscopic studies of the structure of surface carbon and metal nanoobjects Grishina Yana Sergeevna
- university:
- Моск. гос. ин-т электронной техники
- The year of defence:
- 2019
- brief description:
- Гришина, Яна Сергеевна.Электронно-микроскопические исследования структуры поверхностных углеродных и металлических нанообъектов : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Гришина Яна Сергеевна; [Место защиты: Моск. гос. ин-т электронной техники]. - Москва, 2019. - 147 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат наук Гришина Яна Сергеевна
Введение
Глава 1. Современное представление об углеродных нановолокнах и наночастицах металлов
1.1 Углеродные нановолокна
1.1.1 Способы получения и основные свойства углеродных нановолокон
1.1.2 Корневой, вершинный и некаталитический механизмы роста углеродных нановолокон
1.1.3 Характеризация различными методами исследования морфологии и структуры углеродных нановолокон, сформированных при низкой температуре плазмостимулированным химическим осаждением
1.2 Наноразмерные частицы металлов
1.2.1 Получение наночастиц металлов методом вакуумно-термического испарения
1.2.2 Влияние аморфного углерода на поведение наночастиц металлов
1.2.3 Поведение наночастиц металлов на поверхностях различных материалов подложек
1.2.4 Изменения параметра решетки наночастиц металлов
1.3 Выводы по главе
Глава 2. Электронно-микроскопические методы исследования наноматериалов
2.1 Система с электронным и фокусированным ионным пучками
2.2 Приготовление электронно-микроскопических образцов для исследования в просвечивающем электронном микроскопе
2.2.1 Пробоподготовка образцов путем шлифовки, полировки и ионного утонения
2.2.2 Пробоподготовка образцов методом фокусированного ионного пучка In-Situ Lift-Out
2.2.3 Пробоподготовка образцов теневым методом
2.3 Томография наноматериалов с применением фокусированного ионного пучка
2.4 Методы просвечивающей электронной микроскопии для изучения наноматериалов
2.5 Методы обработки полученных данных
2.6 Моделирование высокоразрешающих изображений
2.7 Выводы по главе
Глава 3. Электронно-микроскопические исследования углеродных наностолбиков
3.1 Формирование углеродных наностолбиков методом низкотемпературного плазмостимулированного химического осаждения и пробоподготовка калибровочных образцов
3.2 Растровая электронная микроскопия углеродных наностолбиков
3.3 Пористость углеродных наностолбиков
3.3.1 Процедура ФИП-томографии углеродных наностолбиков
3.3.2 Определение пористости наностолбиков методом ФИП-томографии
3.4. Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии
3.4.1 Развитие метода In-Situ Lift-Out для приготовления электронно-микроскопических образцов УНС в планарном и под наклоном к подложке сечениях
3.5 Методы просвечивающей электронной микроскопии для изучения углеродных наностолбиков
3.5.1 Изучение формы и структуры углеродных наностолбиков в поперечном и наклонном сечениях относительно подложки
3.5.2 Исследование изменения структуры углеродных наностолбиков при термической обработке
3.6 Основные этапы формирования углеродных наностолбиков на поверхностях различных материалов
3.7 Выводы по главе
Глава 4. Электронно-микроскопические исследования наночастиц серебра
4.1 Получение наночастиц серебра испарением в вакууме
4.2 Статистический анализ наночастиц серебра
4.3 Изучение влияния низкоэнергетического пучка электронов на отожженные наночастицы серебра на поверхности слоя диоксида кремния
4.4 Развитие метода фокусированного ионного пучка для приготовления поперечных сечений наночастиц серебра без использования защитного покрытия
4.5 Просвечивающая электронная микроскопия наночастиц серебра
4.5.1 Структурные исследования исходных и отожженных наночастиц серебра на поверхностях углеродных фольг
4.5.2 Изучение влияния высокоэнергетических электронов на стабильность
наночастиц на поверхности слоя диоксида кремния и углеродных фольг
4.5.3 Метод измерения параметра решетки наночастиц серебра
4.5.4 Вариация параметра решетки наночастиц серебра на поверхности углеродной
фольги
4.6 Выводы по главе
Заключение
Список литературы
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб