Исследование спектральных, прочностных и гигроскопических свойств оптических монокристаллов галогенидов щелочных металлов при наноструктурировании их поверхности Кужаков Павел Викторович

brief description

Кужаков, Павел Викторович.
Исследование спектральных, прочностных и гигроскопических свойств оптических монокристаллов галогенидов щелочных металлов при наноструктурировании их поверхности : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.05 / Кужаков Павел Викторович; [Место защиты: Гос. опт. ин-т им. С.И. Вавилова]. - Санкт-Петербург, 2018. - 138 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат наук Кужаков Павел Викторович
Список сокращений
Введение
Глава 1. Литературный обзор. Наноструктуры
1.1. Типы и области применения наноструктур
1.2. Методы получения наноматериалов, включая углеродные нанотрубки
1.3. Оптические свойства нанотрубок
1.4. Механические свойства нанотрубок
Выводы к главе
Глава 2 Описание экспериментальных установок и методов исследования наноструктур
2.1. Спектральные методы исследования наноструктур
2.2. Инфракрасная спектроскопия для исследования наноструктур
2.2.1. Инфракрасная спектроскопия
2.2.2. Инфракрасная спектроскопия поверхности
2.2.3. Инфракрасная Фурье - спектроскопия
Выводы к главе
Глава 3. Исследование влияния наноструктурирования поверхности оптических материалов на их прочностные свойства и спектральные характеристики
3.1. Теоретический анализ
3.2. Экспериментальные исследования процесса наноструктурирования
3.3. Исследование образцов кристаллической оптики KCl, NaCl, KBr: спектры пропускания
Выводы к главе
Глава 4 Влияние влажности на гигроскопичные оптические материалы на примере оптических деталей инфракрасных Фурье-спектрометров
4.1. Исследование защитных свойств системы поли-хлор-пара-ксилилена,
нанесенной на элемент ^^г, при воздействии влажности
4.2. Исследование гидрофобных и спектральных свойств системы углеродных
нанотрубок, нанесенных на ^^г и N0, при воздействии влажности
Выводы к главе
Заключение
Список литературы
Приложения
Приложение №1. Сертификат, протокол, патент
Приложение №2. Расчет погрешностей измерений
Приложение №3. Измерение углов смачивания
Список сокращений
FTIR - Fourier transform infrared spectroscopy (ИК Фурье спектроскопия) MG - Максвелл Гарнетт
MIR - средний инфракрасный диапазон спектра
TECVD - метод термически усиленого химически осажденного пара
UV-VIS-NIR - ультрафиолетовый-видимый-ближний ИК-диапазон спектра
АСМ - атомно - силовая микроскопия
ГЩМ - галогениды щелочных металлов
ИК - инфракрасный
МНПВО - многократное нарушенное полное внутреннее отражение
МПМ - метод порошковой металлургии
МУНТ - многослойная углеродная нанотрубка
НПВО - нарушенное полное внутреннее отражение
ПВО - полное внутреннее отражение
ТЭС - теория эффективной среды
УНТ - углеродная нанотрубка
УФ - ультрафиолетовый