catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
 
 скачать файл: 
- title: 
- Неупругое туннелирование куперовских пар с участием фононов в с- направлении в одиночных и стопочных контактах на микротрещине в Bi-Sr-Ca-Cu-O Неупругое туннелирование куперовских пар с участием фононов в с- направлении в одиночных и стопочных контактах на микротрещине в Bi-Sr-Ca-Cu-O
- Альтернативное название: 
- Inelastic tunneling of Cooper pairs with participation of phonons in the c-direction in single and stack contacts on a microcrack in Bi-Sr-Ca-Cu-O Inelastic tunneling of Cooper pairs with participation of phonons in the c-direction in single and stack contacts on a microcrack in Bi-Sr-Ca-Cu-O
- The year of defence: 
- 1999
- brief description: 
- Шабалин, Михаил Евгеньевич.
 Неупругое туннелирование куперовских пар с участием фононов в с- направлении в одиночных и стопочных контактах на микротрещине в Bi-Sr-Ca-Cu-O : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10. - Москва, 1999. - 138 с. : ил.
 Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Шабалин, Михаил Евгеньевич
 ВВЕДЕНИЕ
 ГЛАВА 1. ОДНОЧАСТИЧНОЕ ТУННЕЛИРОВАНИЕ И ЭФФЕКТ ДЖОЗЕФСОНА В ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ СВЕРХПРОВОДНИКАХ. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ.
 1.1. Структура и физические свойства ВТСП.
 1.2. Теоретические модели высокотемпературной сверхпроводимости и их экспериментальная проверка.
 1.3. Туннельный эффект в сверхпроводниках.
 1.4. Специфика туннельного эффекта в сверхпроводниках. Туннелиро-вание с участием фононов.
 ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЙ I(V>, dI(V)/d(V)-, И d2I(V)/dV2-ХАРАКТЕРИСТИК КОНТАКТОВ НА МИКРОТРЕЩИНЕ В ВТСП В ШИРОКОМ ТЕМПЕРАТУРНОМ ИНТЕРВАЛЕ ВО ВНЕШНИХ СВЧ- И МАГНИТНЫХ ПОЛЯХ.
 2.1. Автоматический цифровой мост для регистрации I(V)-, dI(V)/dV- и d I(V)/dV - характеристик туннельных контактов.
 2.2. Методика приготовления контактов на микротрещине в поликристаллах и пластинчатых монокристаллах Bi-Sr-Ca-Cu-0 (2212 и 2223 фазы).
 2.3. Основные характеристики использованных в работе ВТСП образцов.
 ГЛАВА 3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ НЕУПРУГОГО ТУННЕЛИРОВАНИЯ КУПЕРОВСКИХ ПАР В ОДИНОЧНЫХ КОНТАКТАХ НА МИКРОТРЕЩИНЕ В Bi-Sr-Ca-Cu-0.
 3.1. Туннельный эффект в контактах на микротрещине в пластинчатых монокристаллах и поликристаллических образцах.
 3.2. Тонкая структура на В АХ SIS контактов при токе fc с- направлении.
 3.3. Влияние температуры, магнитного поля и внешнего СВЧ-излучения на ВАХ джозефсоновских контактов.
 3.4. Взаимодействие переменного джозефсоновского тока с оптическими фононами в Bi-Sr-Ca-Cu-О.
 ГЛАВА 4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ВАХ СТОПОЧНЫХ КОНТАКТОВ НА МИКРОТРЕЩИНЕ В Bi-Sr-Ca-Cu-0.
 4.1. Туннельный эффект в стопочных контактах на микротрещине в пластинчатых монокристаллах и поликристаллических образцах Bi-Sr-Ca-Cu-О.
 4.2. Влияние переменного джозефсоновского тока на ВАХ стопочных контактов на микротрещине Bi-Sr-Ca-Cu-О.
 4.3. ВАХ стопочных контактов на микротрещине в пластинчатых монокристаллах и поликристаллических образцах Bi-Sr-Ca-Cu-О в с-направлении и симметрия параметра порядка. t
- Стоимость доставки: 
- 650.00 руб