catalog / Physics and mathematics / Semiconductor physics
скачать файл: 
- title:
- Низкотемпературная туннельная спектроскопия и сканирующая туннельная микроскопия халькогенидов свинца Рыков, Сергей Александрович
- Альтернативное название:
- Low-temperature tunneling spectroscopy and scanning tunneling microscopy of lead chalcogenides Rykov, Sergey Aleksandrovich
- university:
- Санкт-Петербург
- The year of defence:
- 1999
- brief description:
- Рыков, Сергей Александрович.
Низкотемпературная туннельная спектроскопия и сканирующая туннельная микроскопия халькогенидов свинца : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.10. - Санкт-Петербург, 1999. - 144 с. : ил.
Оглавление диссертациидоктор физико-математических наук Рыков, Сергей Александрович
Введение
Глава I. Туннельная спектроскопия теллурида свинца с использованием планарных МДП контактов
1.1. Основы метода туннельной спектроскопии полупроводников
1.2. Общие особенности вольтамперных характеристик туннельных МДП контактов
1.3. Туннельная спектроскопия теллурида свинца в квантующем магнитном
1.3.1. Туннельная спектроскопия объемного зонного спектра теллурида свинца
1.3.2. Исследование анизотропии изоэнергетических поверхностей
1.3.3. Туннельная спектроскопия двумерных поверхностных подзон
1.4. Выводы
Глава II. Туннельная спектроскопия резонансных примесных состояний таллия и индия в теллуриде свинца
2.1. Туннельная спектроскопия теллурида свинца, легированного таллием
2.2. Туннельная спектроскопия теллурида свинца, легированного индием
2.2.1. Особенности вольтамперных характеристик туннельных МДП структур на основе РЪТе<1п>
2.2.2. Особенности дифференциальных характеристик туннельных МДП структур на основе РЬТе<1п>
2.2.3. Туннельная спектроскопия МДП структур на основе РЬТе<1п> в квантующих магнитных полях
2.3. Выводы
Глава III. Сканирующая туннельная микроскопия и локальная туннельная спектроскопия халькогенидов свинца 88 3.1. Конструкции низкотемпературных сканирующих туннельных микроскопов
3.2. СТМ исследования объемных монокристаллов и тонких пленок РЬТе<1п>
3.2.1. СТМ исследования кристаллов РЬТе<1п>
3.2.2. Локальная туннельная спектроскопия кристаллов РЬТе<1п>
3.2.3. СТМ и ЛТС исследования тонких пленок РЬТе<1п>
3.3. СТМ и ЛТС исследования эпитаксиальных тонких пленок РЬ8е<С1>
3.4. Модификация поверхности монокристаллов РЬТе с помощью СТМ
3.5. Выводы 131 Заключение 133 Список литературы
- Стоимость доставки:
- 650.00 руб