Развитие и систематическое сравнение способов характеристики свойств аналитических сигналов в виде пиков на примере инверсионной вольтамперометрии Романенко, Элеонора Сергеевна

brief description

Романенко, Элеонора Сергеевна.
Развитие и систематическое сравнение способов характеристики свойств аналитических сигналов в виде пиков на примере инверсионной вольтамперометрии : диссертация ... кандидата химических наук : 02.00.02. - Томск, 2003. - 126 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат химических наук Романенко, Элеонора Сергеевна
Введение.
Положения, выносимые на защиту.
Научная новизна.
Научная ценность.
Глава I. Литературный обзор.
1.1. Характеристика свойств аналитического сигнала в виде пика и исследование формы пика.
1.2. Моделирование аналитических сигналов в форме пика.
1.3. Разрешение перекрывающихся пиков с помощью математических методов.
1.3.1. Общие вопросы разрешения пиков.
1.3.2. Разрешение перекрывающихся пиков в вольтамперометрии
1.4. Сглаживание и дифференцирование аналитических сигналов.
1.5. Методы учета базовой линии.
Глава И. Каркасный способ характеристики свойств аналитических пиков.
2.1. Определение параметров каркасного способа характеристики свойств аналитических пиков в общем виде.
2.2. Исследование трех элементарных функций для описания пиков с использованием представления о треугольном каркасе.
2.3. Соотношения между основными параметрами трех элементарных функций.
2.4. Нормировка пиков.
Глава III. Способ характеристики формы аналитических пиков с помощью инкрементов.
3.1. Общие представления об инкрементах.
3.2. Порядок проведения эксперимента и предварительной обработки данных.
3.3. Изучение поведения инкрементов на примере серий пиков таллия.
Глава IV. Систематическое сравнение различных способов характеристики свойств аналитических пиков.
4.1. Сравнение способов характеристики свойств пиков на основании математических моделей.
4.2. Исследование влияния дискретизации профиля аналитического пика.
4.3. Исследование влияния шума на параметры различных способов характеристики свойств пиков.
Глава V. Применение способов детальной характеристики аналитических пиков при решении некоторых аналитических задач.
5.1. Оптимизация дробной степени сплайн-функции с помощью параметров контурного, каркасного способов и способа характеристики свойств пиков статистическими моментами.
5.2. Исследование устойчивости параметров каркасного, контурного способов и способа, использующего статистические моменты распределения, характеристики свойств пиков.
5.3. Исследование поведения параметров аналитического пика в зависимости от содержания определяемого компонента в анализируемом растворе.