Швецов-Шиловский Иван Иванович Развитие методов и средств исследований нестабильных тиристорных эффектов в КМОП СБИС при воздействии ионизирующих излучений



  • Назва:
  • Швецов-Шиловский Иван Иванович Развитие методов и средств исследований нестабильных тиристорных эффектов в КМОП СБИС при воздействии ионизирующих излучений
  • Альтернативное название:
  • Швецов-Шиловський Іван Іванович Розвиток методів та засобів досліджень нестабільних тиристорних ефектів у КМОП НВІС при впливі іонізуючих випромінювань
  • Кількість сторінок:
  • 127
  • ВНЗ:
  • МИФИ
  • Рік захисту:
  • 2022
  • Короткий опис:
  • Швецов-Шиловский Иван Иванович Развитие методов и средств исследований нестабильных тиристорных эффектов в КМОП СБИС при воздействии ионизирующих излучений
    ОГЛАВЛЕНИЕ ДИССЕРТАЦИИ
    кандидат наук Швецов-Шиловский Иван Иванович
    Введение

    Глава 1. механизмы возникновения СТЭ и НТЭ в КМОП СБИС

    1.1 Проявление ТЭ в КМОП СБИС

    1.2 Щелевой ТЭ

    1.3 Методы подавления ТЭ

    1.4 Эффект самопроизвольного отключения тиристорной структуры

    1.5 Возможность проявления ТЭ в виде сбоев при воздействии ТЗЧ

    1.6 Классификация тиристорных эффектов

    Выводы по Главе

    Глава 2. Проявление нестабильного тиристорного эффекта в КМОП СБИС

    при воздействии ТЗЧ

    2.1 Моделирование НТЭ в КМОП СБИС при воздействии ТЗЧ

    2.2 Влияние режима функционирования на проявление ТЭ в КМОП СБИС при воздействии ТЗЧ

    2.3 Кластеры сбоев как следствие НТЭ в СОЗУ при воздействии ТЗЧ

    Выводы по Главе

    Глава 3. Проявление нестабильного тиристорного эффекта в КМОП СБИС

    при воздействии импульсного Ионизирующего излучения

    3.1 Исследование щелевого стабильного ТЭ

    3.2 Влияние однородности и равномерности воздействия на проявление НТЭ

    3.3 Проявление НТЭ в КМОП СБИС при воздействии импульсного ионизирующего излучения

    3.4 Схемотехнические модели нестабильного ТЭ при воздействии однородного импульсного излучения

    3.5 Поведенческая модель импульсной реакции микросхемы при воздействии однородного импульсного излучения с учетом нестабильного тиристорного эффекта

    3.6 Влияние нестабильного ТЭ на сбоеустойчивость при воздействии однородного импульсного излучения

    Выводы по Главе

    Глава 4. Методические и технические средства оценки стойкости микросхем

    к нестабильному тиристорному эффекту в КМОП СБИС

    4.1 Особенности контроля импульсной реакции в КМОП СБИС

    4.2 Методика контроля наличия НТЭ в КМОП СБИС при воздействии ТЗЧ

    4.3 Методика контроля наличия НТЭ в КМОП СБИС при воздействии ИИИ

    4.4 Апробация методики и экспериментальные результаты

    4.5 Аппаратно-программный комплекс для регистрации НТЭ

    Выводы по Главе

    Заключение

    Список сокращений и условных обозначений

    Список литературы

    ВВЕДЕНИЕ

    Диссертация направлена на решение актуальной научно-технической задачи разработки и внедрения методических и технических средств моделирования нестабильных тиристорных эффектов в КМОП микросхемах высокой степени интеграции при воздействии ионизирующих излучений естественного и искусственного происхождений. Задача имеет существенное значение для создания и совершенствования существующих и разрабатываемых высоконадежных элементов и устройств вычислительной техники и систем управления.
  • Список літератури:
  • -
  • Стоимость доставки:
  • 250.00 руб


ПОШУК ГОТОВОЇ ДИСЕРТАЦІЙНОЇ РОБОТИ АБО СТАТТІ


Доставка любой диссертации из России и Украины