Каталог / Фізико-математичні науки / Фізика конденсованого стану
скачать файл: 
- Назва:
- Моделирование структуры дефектов в кремнии методами молекулярной динамики и квантовой химии Мякенькая, Галина Степановна
- Альтернативное название:
- Modeling the structure of defects in silicon using molecular dynamics and quantum chemistry methods Myakenkaya, Galina Stepanovna
- Короткий опис:
- Мякенькая, Галина Степановна.Моделирование структуры дефектов в кремнии методами молекулярной динамики и квантовой химии : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.07. - Алматы, 2000. - 216 с. : ил.
Оглавление диссертациидоктор физико-математических наук Мякенькая, Галина Степановна
Введение.
Глава 1. Описание методов расчета.
1.1. Многоатомный кластер и метод молекулярной динамики.
1.2. Потенциал межатомного взаимодействия.
1.3. Квантовый подход к многочастичной проблеме.
1.4. Адиабатическое приближение
1.5. Полуэмпирический подход.
1.6. Теория Хюккеля
1.7. Метод полного пренебрежения дифференциальным перекрыванием (ППДП).
1.8. Дискретно-вариационный Ха- метод (Ха - ДВ).
1.9. Молекулярные аспекты симметрии.
1.10. Группа симметрии тетраэдра
1.11. Модельный кластер кремния в неэмпирических расчетах
1.12. Апробация модели.
1.13. Выбор параметров в полуэмпирических расчетах
Глава 2. Микроструктура дефектов в кремнии.
2.1. Энергия образования вакансионных комплексов в кремнии
2. 2. В од ородо-со держащие центры.
2. 3. Литий в кремнии.
2. 4. Гелий в кремнии.
2. 5. Примесь замещения
2. 6. Дефекты с углеродной компонентой.
2. 7. Азот и кислород.
2. 8. Собственные междоузельные атомы
2. 9. Идентификация дефектов.
Глава 3. Применение метода функционала плотности к керамическим сверхпроводникам.
3. 1. Подрешетка Си
3. 2. Дефекты и примесные атомы.
Глава 4. Динамика образования дефектов.
4.1. Потери энергии медленными атомами в упругих соударениях
4.2. Потери энергии заряженными частицами с энергией от 10 МэВ/нукл до 1000 МэВ/нукл
4. 3. Процессы, приводящие к образованию электронно-дырочных пар
4.4. Потенциал ионизации
4. 5. Вычисление массовой тормозной способности и пробегов.
4.6. Идентификация частиц по заряду
4.7. Наиболее вероятные потери энергии в методе селекции минимального импульса.
4. 8. Дефекты типа смещения.
- Стоимость доставки:
- 650.00 руб