Каталог / Фізико-математичні науки / Фізика конденсованого стану
 
 скачать файл: 
- Назва: 
- Модификация свойств поверхности эпитаксиальных слоев GaAs с помощью зонда атомно-силового микроскопа Прасолов Никита Дмитриевич
- Альтернативное название: 
- Modification of Surface Properties of GaAs Epitaxial Layers Using an Atomic Force Microscope Probe Nikita Dmitrievich Prasolov
- ВНЗ: 
- Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена
- Короткий опис: 
- Прасолов, Никита Дмитриевич.
 Модификация свойств поверхности эпитаксиальных слоев GaAs с помощью зонда атомно-силового микроскопа : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Прасолов Никита Дмитриевич; [Место защиты: Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена]. - Санкт-Петербург, 2019. - 158 с. : ил.
 Оглавление диссертациикандидат наук Прасолов Никита Дмитриевич
 Введение
 1 Литературный обзор
 1.1 Сканирующая зондовая микроскопия
 1.2 Сканирующая зондовая литография
 1.3 Нанотрибология
 1.4 Наноиндентирование
 1.5 Моделирование процесса наноиндентирования методом молекулярной динамики
 1.6 Выводы к первой главе и постановка задачи
 2 Моделирование методами молекулярной динамики процесса наноиндентирования эпитаксиальных слоев GaAs
 2.1 Межатомные потенциалы и параметры моделирования
 2.2 Методы молекулярной динамики
 2.3 Моделирования кристалла GaAs методами молекулярной динамики
 2.4 Моделирование наноиндентирования поверхности кристалла GaAs
 2.4.1 Определение площади контакта и силы взаимодействия индентора с поверхностью GaAs
 2.4.2 Моделирование пластической деформации кристалла GaAs при наноиндентировании
 2.4.3 Реконструкция поверхности GaAs под воздействием индентора и при разных температурах
 2.5 Выводы ко второй главе
 3 Наноиндентирование с помощью зонда атомно-силового микроскопа
 3.1 Взаимодействие зонда-индентора с поверхностью
 3.2 Описание экспериментальной установки для модификации поверхности методом наноиндентирования
 3.3 Эксперименты по наноиндентированию эпитаксиальных слоев GaAs зондом атомно-силового микроскопа
 3.4 Выводы к третьей главе
 Заключение
 Список сокращений и условных обозначений
 Список литературы
- Стоимость доставки: 
- 230.00 руб