Каталог / ТЕХНІЧНІ НАУКИ / Твердотільна електроніка, радіоелектронні компоненти, мікро- та наноелектроніка, прилади на квантови
скачать файл:
- Назва:
- Сивченко Александр Сергеевич. Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине
- ВНЗ:
- ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
- Короткий опис:
- Сивченко Александр Сергеевич. Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине;[Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»], 2021
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб