РОЗРОБКА МЕТОДІВ ТА ЗАСОБІВ ВИЗНАЧЕННЯ ПОКАЗНИКІВ ЗАЛОМЛЕННЯ ОПТОЕЛЕКТРОННИХ ЕЛЕМЕНТІВ У ДІАПАЗОНІ ДОВЖИН ХВИЛЬ 400 нм÷10 мм

Краткое содержание

ОСНОВНИЙ ЗМІСТ РОБОТИ

У вступі обґрунтовано актуальність теми дисертації, проаналізовано наукову новизну та практичне значення роботи, її зв’язок з науковими дослідженнями, які виконували кафедри фотоніки та телекомунікацій Національного університету “Львів­­ська політехніка”. Описано структуру дисертаційної роботи, особистий внесок здобувача під час її виконання, а також наведено інформацію про апробацію результатів, висвітлених у роботі.

У першому розділі описано актуальність задачі визначення показників заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в оптичному та міліметровому діапазонах довжин хвиль. Висвітлено теоретичні підходи до опису поведінки показника заломлення зі зміною довжини хвилі випромінювання, яке проходить крізь матеріал.

Розглянуто переваги та недоліки найбільш вживаних ме­тодик і експериментальних засобів визначення показників заломлення матеріалів у ви­димому (методи еліпсометрії та мінімального відхи­лення, імерсійний метод) і міліметровому (методи дисперсійної фур’є-спектроскопії та відкритого резонатора Фабрі–Перо, спектро­метр “Епсилон”) діапазонах довжин хвиль.

Докладно розглянуто інтерференційний метод, аналіз якого засвідчує потенцій­ні можливості визначення показника заломлення і в оптичному, і в міліметровому діапазонах довжин хвиль. Описано концепцію цього методу, наведено приклади досліджень різних науково-дослідних груп та інститутів, у яких досягнуто точність вимірювань від 1,5∙10^–2 до 5∙10^–6. Завдяки такій високій точності та з урахуванням потенційних можливостей удосконалення самого методу і відповідної апаратної частини, а також можливостей позбутися систематичних похибок, спроби подальшого вдосконалення згаданого методу визначення показників заломлення елементів оптоелектронних пристроїв можна вважати перспективними.

У другому розділі описано розроблену та реалізовану експериментальну установку (рис. 1) для інтерферометричних вимірювань у видимому діапазоні хвиль з описом основних елементів схеми та їхньою функціональною характеристикою.