Білинський Йосип Йосипович. Cубпікселні методи обробки дискретної вимірювальної інформації в комп'ютерних оптико-електронних системах

Краткое описание

Білинський Йосип Йосипович. Cубпікселні методи обробки дискретної вимірювальної інформації в комп'ютерних оптико-електронних системах: Дис... д-ра наук: 05.13.05 2009
Білинський Й.Й.Субпікселні методиобробки дискретної вимірювальної інформації в комп’ютерних оптико-електронних системах. Рукопис.
Дисертація на здобуття наукового ступеня доктора технічних наук за спеціальністю 05.13.05 комп’ютерні системи та компоненти Вінницький національний технічний університет, Вінниця 2009.
Вирішено проблему субпікселної локалізації простих елементів зображення об’єкта на основі низькочастотної фільтрації, що дало змогу створити новий клас КОЕС геометричних параметрів об’єктів. Ці системи реалізують принципово нові методи виділення і кількісної оцінки інформативних ознак вказаних зображень.
Розроблені моделі дискретної асиметричної та квазіасиметричної межі краю об’єкта, методи знаходження субпікселної координати краю та методи виділення контуру на основі гауссової низькочастотної фільтрації, метод автоматичного визначення порогу бінаризації, основаного на використанні спеціальної гістограми щільності ймовірності розподілу інтенсивності спільних точок контурних зображень, а також метод субпікселного визначення координати максимуму розподілу інтенсивності світлової плями, який оснований на знаходженні нахилу функції розподілу в околі піксела з максимальною інтенсивністю. Проведено комп’ютерне моделювання, а також експериментальні дослідження запропонованих методів.
Запропонована апаратна реалізація на ПЛІС паралельно-конвейєрної обробки даних методу виділення контуру з метою підвищення швидкодії попередньої обробки.
Розроблені та впроваджені в практику експериментальні макети КОЕС геометричних параметрів об’єктів. Побудовано КОЕС вимірювання поверхневого натягу рідин, КОЕС параметрів стопи людини КОЕС постави тіла, удосконалено промислові рефрактометри та експериментально визначені їхні основні метрологічні характеристики.