Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках Роддатис, Владимир Владимирович

Краткое описание

Роддатис, Владимир Владимирович.
Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07. - Москва, 1999. - 109 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Роддатис, Владимир Владимирович
ВВЕДЕНИЕ.
ГЛАВА 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ.
1.1. Обзор теоретических приемов описания границ зерен.
1.2. Экспериментальные методики, используемые для получения и исследования границ зерен.
1.3. Обработка изображений и количественная электронная микроскопия.
1.4. Исследования ВТСП пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках.
1.5. Применение пленок ZnO и исследование их роста на различных подложках методом электронной микроскопии.
ГЛАВА 2. МЕТОДИКИ ИССЛЕДОВАНИЯ.
2.1. Приготовление образцов для электронной микроскопии.
2.2. Просвечивающая электронная микроскопия.
2.3. Аналитическая электронная микроскопия.
2.4. Обработка и расчет изображений.
ГЛАВА 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ИСКУССТВЕННЫХ ГРАНИЦ В БИКРИСТАЛЛАХ У- СТАБИЛИЗИРОВАННОГО гЮ2.
3.1. Результаты моделирования изображений структуры У-^Ю2 для различных микроскопов.
3.2. Исследование несимметричных границ в бикристаллах у-гю2.
3.3. Исследование симметричных границ в бикристаллах У
3.4. Выводы.
ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ БИКРИСТАЛЛОВ У-СТАБИЛИЗИРОВАННОГО гЮ2 С ПРОСЛОЙКАМИ РАЗЛИЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ.
4.1. Бикристаллы У-7Ю2 с прослойкой У3Ее5012.
4.2. Бикристаллы с внутренними пленками 8гТЮ3 и 8гТЮ3/У3Ее5012.
4.3. Бикристаллы У^Ю2 с внутренними пленками оксида железа.
4.4. Микроструктура кристаллов У-7Ю2 с внутренними пленками Се02 и БгТЮ3.
4.5. Структура внутренних пленок и 7п0/У-2г02 в бикристаллах У-ЕЮ2.
4.6. Выводы.
ГЛАВА 5. СТРУКТУРА ПЛЕНОК гпО, ВЫРАЩЕННЫХ НА БИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПОДЛОЖКАХ у-гю2 И ПЛЕНОК Т12Ва2СаСи208, ВЫРАЩЕННЫХ НА СТУПЕНЧАТЫХ ПОДЛОЖКАХ ЬаАЮ3.
5.1. Структура пленок ZnO, выращенных на бикристаллических подложках У-ЕЮ2.
5.2. Структура Т12Ва2СаСи208 пленок, выращенных на (001) ступенчатых подложках ЬаАЮз.
5.3. Выводы.