Каталог / ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ / Физика плазмы
скачать файл: 
- Название:
- Исследование параметров плазмы интерференционными и Шлирен методами Таран, Валерий Семенович
- Альтернативное название:
- Study of plasma parameters by interference and Schlieren methods Taran, Valery Semenovich
- Краткое описание:
- Таран, Валерий Семенович.
Исследование параметров плазмы интерференционными и Шлирен методами : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.08. - Харьков, 1983. - 156 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Таран, Валерий Семенович
ВВЕДЕНИЕ.
ГЛАВА 1. МЕТОДЫ ОБРАБОТКИ ШГОИНТШ&ЕРОтШ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ ПЛОТНОСТИ ПЛАЗМЫ НА ВЫХОДЕ ИМПУЛЬСНОГО ПЛАЗМЕННОГО УСКОНГШИ.
1.1. Интерферометрия плазмы с фоторегистрацией.
1.2. Экспериментальная установка.
1.3. Измерительная система для обработки фотоинтерферограмм.
Программно-математическое обеспечение яри обработке эксперименталышх данных.
1.4.1. Исследование цифровых и- аналоговых методов фильтрации изображения интерференционного поля.
1.4.2. Расчет радиальных параметров плотности плазгш в импульсном плазменном ускорителе.
1.5. Выводы.
ГЛАВА 2. МЕТОДЫ ОБРАБОТКИ ШЛИРЕН ФОТОГРАФИИ ПРИ ИССЛЕДОВАНИЙ ПЛАЗМЫ РАЗРЯДА С ПОЛЫМ КАТОДОМ.
2.1. Метод шлирен фотографии.
2.2. Экспериментальная установка.
2.3. Измерительная ситема для фотометрирования шлирен фотографий.
2.4. Програ!лшо-ыатематическое обеспечение системы обработки.
2.4.1. Ввод в ЭВМ градации яркости полутонового объекта*
2.4.2. Определение пространственного распределения интегральных параметров градиентов плотности рлазмы
2.4.3. Определение пространственного спектра неоднородное ей в плазме разряда.
2.5. Выводы.
ГЛАВА 3. МЕТОДЫ ОБРАБОТКИ СВЧ-ЙНТЕРФЕРОГРА1ЛМ ПРИ
ИЗМЕРЕНИИ ПАРАМЕТРОВ ШГАЭШ ОТРАШЖЬНОГО РАЗРЩА.
3.1. Интерферометрия плазмы с электрической' регистрацией
3.2. Экспериментальная установка.
3.3. Измерительная система дот: обработки СВЧ-интерферо-грамм.
3.4. Программно-математическое обеспечение системы измерения и обработки СВЧ-интерферограмм.
3.4.1. Определение фазовых набегов и измерения плотности во времени.
3.4.2. Определение фазовых набегов в интерферометрах с модуляцией.
3.4.3. Определение пространственного распределения плотности плазмы при двухчастотном зондировании
3.4.4. Определение спектральных характеристик колебаний плотности плазш.
3.4.5. icследование влияния градиентных неустойчивостой на увеличение потерь плазш сшгыюточного отрагл-тельного разряда.
3.5. Выводы
ЗА1ШНЕНИЕ
- Стоимость доставки:
- 650.00 руб