Камінська Марина Олександрівна. Системні моделі аналізу тестопридатності цифрових структур на кристалах

Краткое описание

Камінська Марина Олександрівна. Системні моделі аналізу тестопридатності цифрових структур на кристалах : Дис... канд. наук: 05.13.05 2009

Камінська Марина Олександрівна.Системні моделі аналізу тестопридатності при проектуванні цифрових структур на кристалах. Рукопис.
Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук за спеціальністю 05.13.05 комп’ютерні системи та компоненти. Харківський національний університет радіоелектроніки, Харків, 2008.

В результаті виконаних досліджень було вирішено науково-практичну задачу суттєвого зменшення часу верифікації цифрових систем на кристалах та програмних продуктів за рахунок їх структурної та схемної модифікації на ос-нові використання запропонованих методів аналізу тестопридатності, стандартів тестопридатного проектування, асерційних бібліотек, та генератора зваженого тесту при одночасному покращенні якості тестів та покриття дефектів у цифровій схемі або програмному продукті.
Отримано такінаукові результати:

нові методи аналізу тестопридатності програмних продуктів TGA та TASL, що характеризуються модифікованою моделлю операційного пристрою С.Г. Шаршунова у вигляді композиції операційного та керуючого автоматів, що дозволяє автоматично обирати вузькі місця у пристрої для проведення процедури тестування;
нова модель впровадження асерцій у програмний код пристрою на системному рівні, яка характеризується використанням найгірших оцінок тестопридатності і дозволяє прискорити проведення процедури вибору контрольних точок за рахунок автоматизації процедури та зменшити у 23 рази час тестування заданим тестом;
новий структурно-функціональний, ймовірносний метод COPPol-TA аналізу тестопридатності цифрових систем на кристалах, який характеризується використанням кубічного покриття та урахуванням топології схеми при обчис-ленні показників тестопридатності. Метод може бути використаний на рівні регістрових передач, що дає можливість проводити аналіз на схемах великої розмірності (>1 млн. вентилів або функціональних блоків) та суттєво зменшити (в 1,53 рази) час аналізу тестопридатності порівняно з існуючими методами;
удосконалено модель модифікації цифрової схеми за допомогою кола сканування, що на відміну від існуючих характеризується використанням найгірших показників керованості для побудови зваженого тесту, що дозволяє суттєво збільшити глибину покриття дефектів та зменшити апаратурні витрати на 40% порівняно зі стандартною та забезпечує повну перевірку комірки незалежно від решти схеми, а також можливістю забезпечення високого рівня тестованості схеми (мінімум ліній, що не перевіряються), кореляцією показників тестопридатності та рівня покриття несправностей після проведення модифікації схеми;
удосконалено модель вибору контрольних точок, що на відміну від існуючих поширена на структури вентильного, регістрового та системного рівнів, та дозволяє виконувати модифікацію комбінаційних та послідовнісних проектів великої розмірності на ранніх етапах розробки, що дозволяє підвищити тестопридатність продукту у середньому на 2040%;
реалізовано у вигляді програмних засобів запропоновані моделі та методи аналізу тестопридатності, вибору критичних контрольних точок для тестування складних цифрових структур на кристалах та програмних продуктів та здійснено їх імплементацію у систему синтезу тестів та моделювання несправностей SIGETEST, що дозволяє суттєво зменшити час верифікації продукту та час генерації тестових послідовностей (на 20%), виконано тестування на валідність розроблених методів шляхом їх порівняння зі світовими аналогами, використовуючи тестові бібліотеки провідних компаній світу, та впровадження їх у компанії та підприємства України.