Рейда Олександр Миколайович. Інформаційно-вимірювальні системи видалення структурних дефектів зображення цифрованих багатошарових фотографічних матеріалів

Краткое описание

Рейда Олександр Миколайович. Інформаційно-вимірювальні системи видалення структурних дефектів зображення цифрованих багатошарових фотографічних матеріалів: дис... канд. техн. наук: 05.11.16 / Вінницький національний технічний ун-т. - Вінниця, 2005

Рейда О. М. Інформаційно - вимірювальні системи видалення структурних дефектів зображення цифрованих багатошарових фотографічних матеріалів. - Рукопис.
Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук за спеціальністю 05.11.16 інформаційно вимірювальні системи. Вінницький національний технічний університет, Вінниця, 2005.
У результаті виконання дисертаційної роботи: запропоновано і реалізовано метод оцінювання структурних пошкоджень БФМ, що базується на властивостях теорії розсіяння і поглинання світла. На базі запропонованого методу проведено дослідження структури дефектів і точності їх виділення на зображенні цифрованих БФМ; запропоновано і реалізовано метод відтворення структурних пошкоджень цифрованих БФМ, що базується на фізичних властивостях об’єктів і їх структурному аналізі; запропоновано і програмно реалізовано метод адаптації процесу відтворення структурних дефектів сканованих БФМ у залежності від типу БФМ і типу пошкоджень. Використання даного методу дозволило підвищити якість відтворення і адаптувати відтворене зображення до структури зображення, що сформовано у емульсійних шарах БФМ.
На основі проведених комплексних теоретичних і експериментальних досліджень, їх результатів розроблено та освоєно у виробництві на Вінницькому ДНВП «Геосистема» пристрій для видалення структурних пошкоджень БФМ; запровадження даного пристрою, як структурної одиниці фотограмметричного сканеру, дозволило значно розширити його функціональні властивості і покращити якість цифрованих БФМ; використання пристрою видалення дефектів зі структури цифрованих БФМ дозволило отримати значний економічний ефект, так як розроблений пристрій може бути використаний в нових і більш пізніх модифікаціях фотограмметричних сканерів.
Розроблено і апробовано практичні рекомендації по апаратурній реалізації структурних елементів пристроїв для видалення дефектів БФМ і методика використання їх у системах цифрових перетворювачів.

Сукупність отриманих у дисертації результатів розв’язує важливу наукову задачу відновлення структури зображень цифрованих матеріалів у ІВС. У роботі розроблено методи проведення аналізу і видалення дефектів цифрованих БФМ в системах цифрових перетворювачів.
У дисертаційній роботі отримано такі основні результати:

Науково обґрунтовано і застосовано модель пристрою для виділення структурних дефектів, що використовує фізичні і спектральні властивості БФМ, властивості напівпровідникових випромінювачів у визначеному спектральному діапазоні, спектральні властивості напівпровідникових фотоприймачів. На її основі створено систему виділення структурних пошкоджень і проведено дослідження їх основних властивостей.
Приведено класифікацію дефектів цифрованих БФМ і розглянуто їх основні властивості.
Реалізовано метод ідентифікації дефектів цифрованих БФМ на зображені об’єктів, що характеризують фон зображення маски дефектів. Використання даного методу дозволило проводити виділення структурних дефектів зображення цифрованих БФМ з середньоквадратичною похибкою відхилення ± 3 мкм і максимальною похибкою відхилення ±8 мкм при цифруванні БФМ апертурою 8 мкм.
Реалізовано метод відновлення зображень цифрованих БФМ, що базується на принципах «Нестискуваності фазових середовищ».
Запропоновано метод адаптації процесу відтворення структурних дефектів цифрованих БФМ в залежності від типів БФМ і типів пошкоджень.
На основі детального дослідження методик виділення дефектів цифрованих БФМ на функціональному та структурному рівнях показано, що найбільш ефективним шляхом є використання пристроїв і методів виділення дефектів в процесі цифрового перетворення, основане на сенситометричних властивостях БФМ і спектральних властивостях напівпровідникових пристроїв. На структурному рівні ефективність досягається за рахунок використання апаратного методу виділення структурних дефектів БФМ і комплексної методики оцінювання їх структурних властивостей.
Проведено аналіз систем, що використовуються для видалення дефектів цифрованих БФМ а також аналіз якості виділення структурних дефектів і відновлення структури зображення цифрованих БФМ. Приведено криві, що характеризують ймовірність виділення об’єктів відносно мінімального розміру дефектів цифрованих БФМ.
Розроблено пристрій для виділення дефектів цифрованих БФМ, як структурну одиницю фотограмметричного сканера (Delta)
Розроблено пакет програмного забезпечення для обробки цифрованих БФМ з метою виділення дефектів і відновлення структури зображення об’єктів.

Відзначені вище основні наукові і практичні результати дисертаційної роботи в частині теорії застосування впроваджені в розробках підприємств і організацій, що підтверджується відповідними висновками й актами про впровадження.