Каталог / ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ / Физика конденсированного состояния
скачать файл: 
- Название:
- Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе Рехвиашвили, Серго Шотович
- Альтернативное название:
- Force interactions and probes in an atomic force microscope Rekhviashvili, Sergo Shotovich
- Краткое описание:
- Рехвиашвили, Серго Шотович.
Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07. - Нальчик, 1998. - 124 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Рехвиашвили, Серго Шотович
СОДЕРЖАНИЕ
Введение
Глава 1. Основные концепции атомно-силовой микроскопии
1.1. Принцип действия и модификации атомно-силового микроскопа
1.2. Зонды атомно-силового микроскопа. Роль технологии
1.3. Применение атомно-силового микроскопа для анализа по
верхности твердых тел
1.4. Разрешающая способность атомно-силового микроскопа
1.5. Основные типы силовых взаимодействий в атомно-силовом микроскопе
1.6. Расчет параметров модельных потенциалов
Глава 2. Распределение сил в атомно-силовом микроскопе
2.1. Расчет силы взаимодействия и формирование изображений в
приближении одноатомного острия
2.2. Влияние формы острия на распределение сил в атомно -
силовом микроскопе
2.2.1. Дисперсионное взаимодействие
2.2.2. Отталкивательное взаимодействие
2.3. Приближение дискретных атомных плоскостей
2.4. Диссипативные силы в системе зонд - образец
Глава 3. Наноструктурные зонды и силовые взаимодействия в атомно-силовом микроскопе
3.1. Структура и свойства фуллеренов и нанотрубок .
61
3.2. Фуллерены как изображающие элементы иглы атомно - силового
микроскопа
3.3. Нанотрубки и силовые взаимодействия в атомно-силовом
микроскопе
3.4. Моделирование изображений поверхности с нанотрубкой
Глава 4. Кронштейны и зонды в атомно-силовом микроскопе
4.1. Проектирование и расчет кронштейнов
4.2. Технология изготовления пленочных кронштейнов
4.3. Применение ионного травления
4.3.1. Механизмы и теория распыления твердых тел ионной бомбардировкой
4.3.2. Эволюция поверхности под действием ионной бомбардировки
4.3.3. Модификация формы иглы атомно-силового микроскопа с помощью ионного распыления
4.3.4. Контроль формы иглы с помощью спектрометрии резерфордовского обратного рассеяния
Выводы
Список литературы Приложения
108 110
- Стоимость доставки:
- 650.00 руб