ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Увеличение числа диссертаций в базе |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Доставка любых диссертаций из России и Украины |
ПОСЛЕДНИЕ ОТЗЫВЫ
Каталог / ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ / Метрология и метрологическое обеспечение
скачать файл:
- Название:
- Васильев Александр Сергеевич. Метрологическое обеспечение измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в многослойных и многокомпонентных металлических покрытиях с применением метода рентгенофлуоресцентного анализа
- Кол-во страниц:
- 200
- ВУЗ:
- «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева»
- Год защиты:
- 2025
- Краткое описание:
- Метрологическое обеспечение измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в многослойных и многокомпонентных металлических покрытиях с применением метода рентгенофлуоресцентного анализа Васильев Александр Сергеевич. [Место защиты: «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева»], 2025
- Список литературы:
- -
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб
