ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Увеличение числа диссертаций в базе |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Доставка любых диссертаций из России и Украины |
ПОСЛЕДНИЕ ОТЗЫВЫ
Каталог / ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ / Физическая электроника
скачать файл:
- Название:
- Заблоцкий Алексей Васильевич. Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Кол-во страниц:
- 200
- ВУЗ:
- Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)
- Год защиты:
- 2009
- Краткое описание:
- Заблоцкий Алексей Васильевич. Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Заблоцкий Алексей Васильевич; [Место защиты: Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)].- Долгопрудный, 2009.- 129 с.: ил. РГБ ОД, 61 10-1/255
- Список литературы:
- -
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб
