Каталог / ТЕХНІЧНІ НАУКИ / Прилади і методи контролю та визначення складу речовин
скачать файл: 
- Назва:
- Карташов Дмитрий Александрович. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
- ВНЗ:
- Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
- Короткий опис:
- Карташов Дмитрий Александрович. Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники: диссертация ... кандидата технических наук: 05.11.13 / Карташов Дмитрий Александрович;[Место защиты: Национальный исследовательский университет «МИЭТ»].- Москва, 2014.- 128 с.
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб